マイクロインデンテーションテスタ(MHT³)
高荷重範囲の計装化押し込み試験(IIT)
マイクロインデンテーションテスタは、計装化押し込み試験(IIT)に基づく、硬度や弾性率などの機械特性の測定に最適です。測定の押し込み深度が深い(最大1 mm)軟質/硬質の素材(金属、セラミック、ポリマー)のバルクサンプルや薄膜に利用できます。また、オプションでスクラッチ試験モジュールも追加できます。
硬度及び弾性率を計測する押し込み試験(IIT)
押し込み深さ試験: 押し込み深さを、付加した荷重の関数として継続的に監視。これにより、材料の硬度だけでなく弾性率も測定可能
ナノインデンテーションからマクロインデンテーションまで、1台の装置で対応
低深度(表面検出で数nm)から高深度(最大1 mm)に対応可能なマイクロインデント
幅広い荷重を付加して(10 mN~30 N)サンプル特性に適合
粗い表面にも便利な高荷重範囲
深さや荷重の精度が高いため、正確なマイクロインデンテーション測定が可能
独立したセンサ: 1つは荷重用、もう1つは深さ用のセンサで、正確な測定が可能
優れた剛性を備えたフレーム: 2 x 108 N/m (深さ精度が高いため)
材料特性の深さ方向分析
連続マルチサイクル(CMC)による深さ方向分析: 押し込み深度の関数として硬度と弾性率を測定
荷重制御/深さ制御モード
特定の表面領域の押し込み位置を複数選択できるビジュアルマトリックス
マルチモードの試験: ユーザー定義の測定手順により、試験条件のパラメータを自由に設定