制御ソフト / 測定用 / 分光測定
AvaSoft-Thinfilm

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制御ソフト 制御ソフト - AvaSoft-Thinfilm
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特徴

  • 機能:

    制御, 測定用

  • 用途:

    分光測定

詳細

AvaSoft-ThinFilmソフトウェアはアバチンフィルムシステムに付属しており、システムを制御し、薄膜コーティングの測定を行うスタンドアロンパッケージです。

ソフトウェアは、既知の光学パラメータを持つ光学的に透明なレイヤーの反射干渉スペクトルからレイヤーの厚さを計算します。Avasoft-ThinFilm ソフトウェアには、高速フーリエ変換 (FFT) と最適適合最適化アルゴリズム (スペクトラム一致) の 2 つの異なる手法が実装されています。FFT法は、干渉パターンの周波数を決定します。これは主に厚い層に使用されます。一致スペクトルの最適化によって、さまざまな肉厚計算に最適な値が決まります。フィッティングパラメータは、フィット品質の監視とデータ処理の高速化のために調整可能です。

このソフトウェアには、基材およびコーティングの光学定数「n」および「k」の広範なデータベースが含まれています。このデータベースには、半導体や光学コーティングなど、重要な応用分野で使用される基板やコーティング材料が含まれています。

アヴァソフト-Thinfilm では、プロセス制御と Excel アドオンモジュールへのエクスポートも利用できます。
Avasoft-Thinfilm薄膜アプリケーションアドオン・ソフトウェア、Avasof
t-フルバージョンのAvaSpecソフトウェア(すべてのアプリケーション・アドオンを含む)を注文する

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