光学顕微鏡 JSM-IT510 InTouchScope™

走査電子研究用3D

査電子顕微鏡 (SEM) は研究だけでなく、品質保証や製造現場で欠かせないツールなっています。 そのような現場では、同じ観察作業を繰り返し行う必要があり、工程の効率化が求められてきました。 JSM-IT510は新たに加わったSimple SEM機能では、従来SEM観察に必要とされたマニュアルによる繰り返し作業を 「おまかせ」 出来ます。SEMの観察作業をより効率よく、より楽に行えるようになりました。 特長 撮影したい視野を選ぶだけ Simple SEMは日々のルーティンワークをサポートします。 動画紹介 Simple SEMの機能についてご紹介しています。 安全・簡単！ 試料交換ナビ 1. 試料交換ナビに従って試料を挿入 2. 真空排気時間を利用して観察準備 ステージナビゲーションシステム (SNS) はオプションになります。 SNS Large Sample (SNSLS) は別途オプションになります。SNS と併用できます。 チャンバースコープ (CS) はオプションになります。 3. 自動的に観察開始 真空排気完了後、目的視野でフォーカスと明るさが調整された状態です。 光学像を拡大すれば、SEM像 Zeromagは、ホルダーグラフィックや光学像※とSEM像が連動する機能です。 複数の試料をホルダーにセットした場合や特定箇所を観察する場合の視野探しが容易になります。 光学像を表示するにはオプションのステージナビゲーションシステム (SNS) が必要となります。 観察中も常に元素分析 Live Analysisは、常に特性X線スペクトルや元素マップを表示させる機能です。 観察しながら、目的の元素を探すことができます。 A (Analysis) / LA (Low Vacuum & Analysis) に適用されます。