周波数依存の磁化率分析装置 XacQuan V
磁性濃度実験用卓上

周波数依存の磁化率分析装置
周波数依存の磁化率分析装置
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特徴

測定対象
磁性濃度, 周波数依存の磁化率
応用
実験用
形状
卓上
その他の特徴
USB

詳細

-混合物の磁性濃度の測定 -簡単操作 -バンド幅 50~24900Hz -複素磁化率分析 分析内容 外部磁場下では、磁性体の磁気双極子の向きは外部磁場の方向に沿う傾向がある。 外部磁場が交流周波数の低い(一般にマイクロ波周波数より低い)交流磁場である場合、磁気双極子はこの交流磁場に位相遅れを持って振動します。位相遅れは帯磁率を複素数に変換します。XacQuan Vは、交流磁化率を測定するのに適した装置であり、通常、磁性体の磁気濃度を測定するのにも適した装置です。 仕様 入力電圧 -AC 100 - 240 V/50-60 Hz フィールド周波数 -50~24900 kHz フィールド振幅 -10 ~200 mガウス 試料容積 ≤ 5 ml 濃度測定範囲(強磁性体特有) ≤ 10 g 寸法 (幅)36 cm (高さ)17 cm (奥行き)22 cm 重量 2.8 kg 備考 USBケーブルでコンピュータに接続します:Windows 7/Windows 10 アプリケーション 混合物の磁性濃度測定 複合磁化率の分析

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*価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。