X線分光器 Empyrean XAS
ナノテクノロジー用研究開発用環境分析用

X線分光器 - Empyrean XAS - Malvern Panalytical - ナノテクノロジー用 / 研究開発用 / 環境分析用
X線分光器 - Empyrean XAS - Malvern Panalytical - ナノテクノロジー用 / 研究開発用 / 環境分析用
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特徴

タイプ
X線
用途
研究用, 研究開発用, 環境分析用, ナノテクノロジー用
その他の特徴
高解像度, コンピューターべース

詳細

概要
Empyrean XASは、Empyrean多目的X線プラットフォームにX線吸収分光(XAS)を統合し、ラボでのXANESおよびEXAFS測定をXRD、散乱、イメージングと併せて実行可能にします。単一プラットフォームで複数の構造的視点と一貫した実験ワークフローを提供します。

主な機能
  • 回折による長距離の結晶構造決定
  • 散乱法によるナノスケール組織の解析
  • イメージングによる構造データ取得
  • XAS(XANESおよびEXAFS)による局所化学環境の評価

XASで得られる情報
  • 酸化状態の同定
  • 配位幾何の決定
  • 原子間距離の測定
  • 短距離秩序の解析

測定方式と性能
Empyrean XASは透過法の専用構成で測定を行い、安定かつ再現性のあるエネルギースキャンと定量的解釈を可能にします。高いエネルギー分解能によりXANESの詳細解析(前縁の特徴を含む)をサポートし、広いkレンジは定量的なEXAFS解析に適しています。

対応元素とエネルギー範囲
  • アクセス可能なエネルギー範囲:4~20+ keV
  • 中Z元素のK吸収端に対応(例:Ti、Fe、Ni、Mo)
  • 重元素のL吸収端に対応(例:Ba、Ce)
  • マルチエッジ機能:単一実験内で複数吸収端を順次測定可能

ワークフローとソフトウェア機能
  • 自動データ取得
  • スキャンの位置合わせと正規化
  • 検出器補正と背景除去
  • 前縁・後縁のフィッティング
  • スペクトル処理とデータキュレーション

用途
  • エネルギー貯蔵 — 充放電サイクル中の酸化状態変化と局所構造の進化を研究
  • 触媒 — 不均一触媒の活性部位、酸化状態、反応経路を調査
  • 先端材料 — 短距離秩序、欠陥、電子構造の特性評価
  • 環境・地質科学 — 複雑材料中の微量元素解析と種別変換の研究

マニュアル
  • Empyrean Series 3 Pre-Installation manual (English) — Version 3 — 14 February 2023
  • Empyrean Series 3 User Guide (English) — Version 3 — 03 May 2022

仕様(技術仕様)
  • Techniques: XANES、EXAFS
  • Energy range: 4~20+ keV
  • Measurement mode: 透過
  • Energy resolution: 8 keVで1.3 eVまで
  • Resolving power: 最大E/ΔE ≈ 6150
  • Accessible edges: 3d遷移金属のK吸収端および重元素のL吸収端
  • Environment: 大気中で動作
  • Operando studies: 対応
  • 測定時間: 数分から数時間

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*価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。