制御分析装置

X線微量金属用研究所用

新しい、MXRF X8 PLUS強化食品重金属クイックアナライザーは、エネルギー分散型蛍光X線技術を使用して、食品中の微量重金属元素の高速検出を達成するために使用されています。MicrOptikは、最先端の検出器、励起光源、その他のハードウェアを使用して開発しました。 MicrOptikは、使いやすさとコンパクトさが要求される品質管理やプロセス管理などの専用アプリケーションに最適な選択肢を提供します。また、研究やモニタリングのための柔軟な分析が可能です。 MXRF X8 PLUS強化食品重金属クイックアナライザーは、茶、タバコ、作物中の水銀（Hg）、カドミウム（Cd）、ヒ素（As）、鉛（Pb）、セレン（Se）を非破壊で迅速に検出するために適用され、最小検出限界0.04ppm、2~3分の迅速スクリーニング、25分の正確な測定。 技術仕様 エレメントレンジ - S-U 分析範囲：0.04ppm～99.99%まで 同時分析 - 食品中の重金属に特化して設計されています。 検出限界値 - 0.04ppm 試験体-粉体、固体、液体 測定時間 - 60~1800s (テスト要素や内容によって時間を調整) 分解能 - 最小129eVまで 精度 - 0.05