ナノ粒子追跡分析寸法測定器 AirSentry® II
製薬産業用環境分析用

ナノ粒子追跡分析寸法測定器
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特徴

技術
ナノ粒子追跡分析
応用
製薬産業用, 環境分析用

詳細

クリーンルーム大気中の分子状汚染物質 (AMC: Airborne Molecular Contaminant) は、電子デバイスや製造装置の性能に影響を与え、歩留ロスや製品劣化の原因になります。適切なモニタリングが、迅速で的確なAMC汚染対策の実施につながります。 AirSentry II 移動式AMCモニタリングシステムは、イオンモビリティスペクトロメータ(IMS)のAirSentry II AMCモニター、コンプレッサ、エアドライヤ、CDAタンク、真空ポンプ、UPSなど、サンプル採取とAMC検出に必要なコンポーネントをすべて移動式ワゴンに搭載しています。電源に接続せずに、約30分の測定が可能です。 ユーザーインターフェースとなるタッチパネルPCにはFacility Net モニタリングソフトウェアがプリインストールされており、測定結果のリアルタイム表示やレポートの生成、データの保存などを行います。 スピーディな汚染源の特定と汚染防止に有効な、オールインワンの高感度AMCモニタリングシステムです。

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