質量分析計 ZSX Primus400

蛍光X線高解像度

最大φ400mm×50mmの試料をそのまま測定できます。貴重な試料を小さく加工する必要はありません。多数の試料を同時にセットできる試料アダプターや、異形試料に対応できる試料アダプターも用意しています。 測定可能元素　Be～U 独自の真空度制御機構APC（Auto Pressure Control）により、測定部の真空度を安定化し、超軽元素を含む軽元素を高精度に測定することができます。 波長分散型システムによるポイント・マッピング分析 r-θ駆動の試料ステージを採用。内蔵の高精度カメラ（500万画素）で分析部位を確認しながら、波長分散方式の優れたスペクトル分解能を生かし、超軽元素まで100マイクロメートルのマッピング位置分解能による正確なポイント・マッピング測定が可能です。 ZSX Guidanceソフトウェア ビジュアルな画面を使って高度な分析を実行できる、初心者にも優しいソフトウェアです。定量アプリケーションの作成をサポートする評価プログラムなど蛍光Ｘ線分析技術に関するノウハウが各所に組み込まれています。