ZEISS Sigma 300 はコストパフォーマンスに優れています。また、ZEISS Sigma 500 ではクラス最高のEDS geometry で、簡単に高速に元素分析が可能。試料を選ばず、いつでも正確に再現性のある結果が得られます。
フレキシブルな検出、4ステップワークフロー、高度な解析
フィールドエミッションSEM(FE‐SEM)のテクノロジーに高度な解析。実績ある Gemini 電子光学系を搭載しています。
様々なオプションが選択できる検出器では、粒子、表面、ナノ構造のイメージングが可能です。また、セミオートの4ステップのワークフローで時間を節約できるため、 イメージングと解析のルーチンを構成して生産性が向上します。
フレキシブルな検出でクリアな画像
新世代の二次電子(SE)検出器:50%以上のシグナルで画像を撮影。圧力可変モードで有効な Sigma の新しい C2D および VPSE 検出器: 低真空で85%以上コントラストが向上したクリアな画像を取得