X線顕微鏡 Xradia 510 Versa

研究所用素材研究用プロジェクション式

ソースから数ミリメートルまたは数インチの長い作動距離も可能な多用途性 業界最高クラスの in situ /4DソリューションであるZEISS Xradia 510 Versa 3D X線顕微鏡(XRM)で、新たなレベルの発見を実現できます。弊社独自のRaaD (Resolution at a Distance)機能が、数ミリメートルから数センチメートルサイズの試料に於いて分解能1ミクロンの壁を突破します。世界トップクラスの分解能およびコントラストと作業距離の柔軟性という強力な組み合わせを利用して、ラボ内の非破壊イメージングの能力を向上できます。 Xradia 510 VersaによりX線顕微鏡(XRM)のパワーを最大化して、幅広い研究環境での柔軟な3Dイメージングを実現します。Xradia 510 Versaの実質的な空間分解能は0.7 μm、最小達成可能ボクセルサイズは70 nmです。高度な吸収コントラストと革新的な位相コントラストによって柔質材料や低Z材料での多用途性が向上し、従来のコンピュータートモグラフィ(CT)の限界を克服できます。 マイクロCTシステムを超える性能を実現し、過去のフラットパネルシステムの制限を超えて科学研究を拡張します。従来のトモグラフィは単一ステージの幾何学な拡大に依存しているのに対し、Xradia Versa顕微鏡はシンクロトロン口径の光学系に基づく独自の2ステージプロセスを採用し、分解能、コントラスト、長い作動距離での高分解能を実現するために最適化された検出システムを備えています。画期的なZEISSのResolution at a Distance (RaaD)によって、今までにない多様なアプリケーションと試料タイプに対するラボでの調査を行うことができます。 非破壊X線および柔軟なマルチレングススケール機能により、同じ試料を幅広い倍率でイメージングすることができます。業界最高クラスの4D/in situ /4DソリューションであるXradia Versaで、自然環境内で材料の微細構造の特性を独自に評価したり、特性の形成を経時的に調査したりできます。オプションのVersa In Situ キットは設定の最適化、操作の簡易化を実現し、迅速な結果を得ることが出来ます。さらにin situ 設備(配線や配管など)を纏める事により最大限のイメージング性能と使いやすさを実現できます。