HITACHIの床置き顕微鏡

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FIB/SEM顕微鏡NX9000

実験用研究用生物学

FIB/SEM顕微鏡

NX9000

分解能: 2.1, 1.6 nm

... 傾斜断面観察では避けられなかった、断面SEM像の縮みや連続画像収集時の視野逃げを回避。本来の構造に忠実な画像が安定して得られることから、精度の高い三次元構造解析を実現。また、FIB加工断面（SEM観察断面）が試料表面と平行になるため、光学顕微鏡画像などとの相関をとるうえでも有利。 Cut&See® 生物組織や半導体から鉄鋼やニッケルなどの磁性材料まで、低加速電圧での高分解能・高コントラスト観察に対応。 FIB加工とSEM観察の間の装置条件の変更も不要で、高スループットで連続断面 ...

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FIB/SEM顕微鏡NX9000

HITACHIの床置き顕微鏡

製造元

用途

分解能

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FIB/SEM顕微鏡NX9000