HITACHIの顕微鏡

倍率 : 20 unit - 2,000,000 unit
分解能: 0.8, 0.6, 0.9 nm

... SU8700は高空間分解能と多様な信号検出による観察能力で、デバイスや材料の解析からライフサイエンスまで幅広い分野での観察・分析業務をサポートします。 ショットキーFE電子銃搭載により、極低加速電圧観察から大照射電流を要する高速分析まで幅広い解析手法に対応します。 光学系の自動調整機能やデータ取得自動化を支援するオプション機能を搭載し、大量データの自動取得を可能にしました。 * 装置写真はオプション付属の状態です。 価格：お問い合わせください 取扱会社：株式会社 日立ハイテク 多様な観察条件を可能にするショットキーエミッター搭載FE-SEM 100Vまでの低加速電圧と最大200nAまでの照射電流 低真空モード対応 多様な情報を取得する検出系 スループット向上を支援する自動化機能搭載 SU8700は光学系の自動調整機能を搭載しており、ユーザーの操作負荷を低減します。また、オプション機能 ...

倍率 : 20 unit - 2,000,000 unit
分解能: 0.7, 0.6 nm

... SU8600 は高空間分解能と多様な信号検出による観察能力で、デバイスや材料の解析からライフサイエンスまで幅広い分野での観察・分析業務をサポートします。 高輝度コールドFE電子銃と検出信号制御機能により、高コントラスト像を高い分解能で提供します。 光学系の自動調整機能やデータ取得自動化を支援するオプション機能を搭載し、大量データの自動取得を可能にしました。 * 装置写真はオプション付属の状態です。 価格：お問い合わせください 取扱会社：株式会社 日立ハイテク 特長 低エネルギー観察条件での超高分解能像 高輝度のコールドFE電子銃により低エネルギー条件でも高い分解能を維持します。 セミインレンズ対物レンズとExB光学系による高効率信号検出により、低エネルギー/低電流条件でも高いS/Nの画像を提供します。 高コントラストの低加速反射電子像 ExB光学系と検出信号制御機能により、目的に応じて二次電子/反射電子信号を分離しての画像取得が可能です。 右の画像では3D ...

倍率 : 20 unit - 2,000,000 unit
分解能: 0.8, 0.9 nm

... 低加速電圧での高い像質、複数信号同時取得などに加え、広域視野観察、In-Situ観察など現在のFE-SEMでは高い能力と多くの機能が要求されています。 SU7000は多様化するニーズにおいて情報最大化を目ざして創られた、「新しいSEM」です。 SU7000がもたらす世界を体感してください。 * 装置写真はオプション付属の状態です キーコンセプト 1.多彩なイメージング能力 広視野全体像から表面微細構造まで、SU7000は多様な信号の迅速取得を目ざして設計されました。 複数の二次電子信号・反射電子信号が同時に取得できるようにデザインされた電子光学系/検出系はより短い時間で多くの情報をユーザーにもたらします。 2.マルチチャンネルイメージング イメージングニーズの増加に伴い、装着される検出器の数も増加していますが、表示もそれに見合う機能が必要です。 SU7000では最多6チャンネルでの信号同時表示/保存が可能です。 取得情報の最大化を強力にアシストします。 3.多様な試料形状・観察手法に対応 大型試料観察 低真空観察 クライオ観察 その場観察 などに対応するための試料室や真空系を備え、多様な観察手法に応えます。 4.マイクロアナリシス ショットキーエミッター搭載の電子銃による最大200nAの照射電流は余裕を持って各種マイクロアナリシスに対応します。 EDXをはじめとしたX線分析、EBSD、カソードルミネッセンスなどを想定した試料室形状/ポートレイアウトと合わせ、分析アクセサリーの組み合わせの多様化に備えています。 ...

... SEMを初めて使用されるユーザーに対しても「美しい像が得られる体験」、そして一人で習熟・熟達していける「成功体験」、熟達したユーザーにも豊富な機能で提供する新たな「体験」。 EM Wizardはさまざまな“User Experience”を提供し、新たなSEMの楽しさ、面白さを拓きます。 価格：お問い合わせください 取扱会社：株式会社 日立ハイテク あらゆるユーザーに高分解能・再現性・スループットを提供する、新開発ユーザーインターフェース「EM Wizard」 EMWizadのスタンダードモードでは使用される頻度の高い5つのビーム/検出器条件を用意。 選択画面から条件を選択することで光軸調整などの作業なしにベストな光学条件で画像を取得 サンプルへの制限を極力低減したデザイン 大型試料（～200 ...

倍率 : 10 unit - 250,000 unit
重量: 54 kg
幅: 330 mm

... もっと、高画質に、もっと使いやすく、見やすくをコンセプトに開発したTM4000シリーズはさらに機能を拡張したTM4000Ⅱシリーズを発売。 新たな観察・分析アプリケーションをご提供します。 中小企業等経営強化法に基づく支援措置の対象製品（生産性向上設備（A類型））です。 詳しくはこちら 価格：お問い合わせください 取扱会社：株式会社 日立ハイテク 観察・分析のフレキシビリティ 多彩なデータをオートで取得。切替も迅速！ Camera Navi*を使えば、こんなに簡単 カメラナビ画像で迷わず視野探し、MAP機能で観察をサポート 基本操作はこんなに簡単・スピーディ 画像観察までわずか3分。 目的のデータを素早く取得し、レポート作成が可能。 Report ...

分解能: 4, 60, 0.7, 50, 1.5 nm

... 「Ethos」は、日立ハイテクのコア技術である高輝度冷陰極電界放出型電子銃と新開発の電磁界重畳型レンズにより、低加速電圧での高分解能観察を可能とし、リアルタイムFIB加工観察と両立しました。 さらに、SEMカラム内に3つの検出器を搭載することで、二次電子による形状コントラストや反射電子による組成コントラストを同時観察でき、ナノメータースケールの構造物を見逃すことなく観察・解析し、特定箇所を正確に捉えたFIB加工を可能としています。 また新設計の大容量試料室には、EDS*1やEBSD*2などの各分析装置に対応する多数のアクセサリーポートを設置するとともに、直径150 ...

分解能: 2.1, 1.6 nm

... 傾斜断面観察では避けられなかった、断面SEM像の縮みや連続画像収集時の視野逃げを回避。 本来の構造に忠実な画像が安定して得られることから、精度の高い三次元構造解析を実現。 また、FIB加工断面（SEM観察断面）が試料表面と平行になるため、光学 顕微鏡画像などとの相関をとるうえでも有利。 Cut&See® 生物組織や半導体から鉄鋼やニッケルなどの磁性材料まで、低加速電圧での高分解能・高コントラスト観察に対応。 FIB加工とSEM観察の間の装置条件の変更も不要で、高スループットで連続断面 ...

分解能: 0.3 nm

... として使用し、高感度化をはかった新開発の光てこ光学系と、光熱励振方式に対応したカンチレバー励振方式により安定した低ノイズ・高分解能測定を実現する次世代機。 AFM基本性能と操作性向上を両立したマルチ対応システム 架台付除振台とズーム機能付き 顕微鏡を標準搭載した、大気・液中・加熱などの環境制御にも対応可能にした小型マルチモデル AFM基本性能に妥協しない卓上仕様のコンパクトシステム 省スペースな卓上除振台を採用した、エントリーモデル 「AFM測定におけるトータルスループットの ...