HITACHIの研究用顕微鏡

SEMを初めて使用されるユーザーに対しても「美しい像が得られる体験」、そして一人で習熟・熟達していける「成功体験」、熟達したユーザーにも豊富な機能で提供する新たな「体験」。 EM Wizardはさまざまな“User Experience”を提供し、新たなSEMの楽しさ、面白さを拓きます。 価格：お問い合わせください 取扱会社：株式会社 日立ハイテク あらゆるユーザーに高分解能・再現性・スループットを提供する、新開発ユーザーインターフェース「EM ...

分解能: 2.1, 1.6 nm

... 傾斜断面観察では避けられなかった、断面SEM像の縮みや連続画像収集時の視野逃げを回避。 本来の構造に忠実な画像が安定して得られることから、精度の高い三次元構造解析を実現。 また、FIB加工断面（SEM観察断面）が試料表面と平行になるため、光学顕微鏡画像などとの相関をとるうえでも有利。 Cut&See® 生物組織や半導体から鉄鋼やニッケルなどの磁性材料まで、低加速電圧での高分解能・高コントラスト観察に対応。 FIB加工とSEM観察の間の装置条件の変更も不要で、高スループットで連続断面 ...

分解能: 60, 4, 2.8, 3.5 nm

最先端デバイスや高機能ナノ材料の評価・解析において、FIB-SEMはなくてはならないツールとなっています。 近年では、対象構造の微細化に伴い、より薄く、試料加工時のアーティファクトを避けた、TEM薄膜試料作製へのニーズが高まっています。 日立ハイテクでは、定評ある高性能FIB技術と高分解能SEM技術に、姿勢制御とトリプルビーム®＊1（オプション）を組み合わせたNX2000を開発しました。 価格：お問い合わせください 取扱会社：株式会社 日立ハイテク 特長 高コントラスト・リアルタイムSEM加工終点検知により、20 ...