Câmera para microscópio iKon-M SY

digitalUSB

O USB 2.0 iKon-M série iKon-M SY 934 da Andor apresenta um sensor de alto QE, retroiluminado para detecção directa de raios X. Uma conveniente janela de folha de berílio bloqueia comprimentos de onda visíveis com um mínimo de 'Têmpera de feixe' de energias de raios X, dando uma gama de energia de detecção directa a partir de 20keV. 5 anos de Garantia de Vácuo Janela "Standalone" Be Window Leitura Multi-Megahertz Operação em modo de cultivo Ligação USB 2.0 Visão geral O USB 2.0 iKon-M série iKon-M SY 934 da Andor apresenta um sensor de alto QE, retroiluminado para detecção directa de raios X. Uma conveniente janela de folha de berílio bloqueia comprimentos de onda visíveis com um mínimo de 'Têmpera de feixe' de energias de raios X, dando uma gama de energia de detecção directa a partir de 20keV. Este conjunto de sensores 1024 x 1024 com 13 x 13 μm pixels oferece um elevado alcance dinâmico e uma alta resolução espacial. A selecção de software sem falhas de uma gama de velocidades de leitura de kHz e Multi-MHz proporciona um ruído de leitura excepcionalmente baixo e taxas de fotogramas mais rápidas, respectivamente. Características UltraVac™ - Garantia de 5 anos. Processo de vácuo próprio e comprovado, crítico para a integridade do vácuo sustentado, protecção do sensor e arrefecimento inigualável, ano após ano. janela 'Standalone' Be Window - 200 µm Janela de berílio como padrão 13 x 13 µm tamanho de pixel - equilíbrio óptimo de alcance dinâmico e resolução Leitura de ruído ultra-baixo - A electrónica inteligente de baixo ruído oferece o ruído de sistema mais 'silencioso' disponível Leitura de vários megahertz pixéis - Taxas de fotogramas elevadas alcançáveis (5 MHz no modo de visualização, 50 kHz para a mais alta sensibilidade e relação sinal-ruído) Ligação USB 2.0 - USB plug and play - sem caixa de controlo Pinça de base melhorada - Precisão quantitativa das medições dinâmicas.