Elipsômetro espectroscópico PHE 102

para laboratório

A Angstrom Advanced define o padrão em elipsometria - trazendo o melhor da tecnologia de elipsometria aos preços mais acessíveis. A Angstrom Advanced oferece uma gama completa de elipsómetros para medições da espessura de películas finas, caraterização ótica do índice de refração e análise do coeficiente de extinção (n & k). Os nossos elipsómetros podem ser utilizados para muitas aplicações diferentes e são utilizados em alguns dos laboratórios mais prestigiados, como o MIT, a NASA, a UC Berkeley, a Universidade de Yale, a Universidade de Duke, o NIST e muitos outros. Medição rápida na gama UV/VIS/NIR de 250 - 1100 nm com detetor de díodos ou espetrómetro motorizado (monocromador) Extensão opcional da gama espetral para o NIR (700 - 1700 nm) ou (700 - 2100 nm) Extensão opcional da gama UV-VIS (190 - 1100 nm) O polarizador rotativo permite a medição exacta de qualquer estado de polarização Analisador de varrimento por passos para aquisição de alta velocidade e baixo ruído Ângulo variável de 10-90° Ângulo automatizado de 10-90° também disponível Determinação rápida da espessura e do índice de refração de amostras de uma ou várias camadas Os dados Psi e Delta de gama alargada são medidos automaticamente e ajustados através do software PHE-102 O software PHE-102 é o programa mais completo disponível para aquisição e análise de dados. Combina algoritmos de ajuste matemático de última geração com uma vasta seleção de opções de modelação para uma análise de dados rápida e precisa. Um software avançado de elipsometria espectroscópica Biblioteca incorporada de propriedades de materiais, incluindo várias centenas de modelos de materiais Mistura de novos materiais utilizando propriedades de materiais conhecidos