Espectrômetro AFM Dimension IconIR

infravermelhoFT-IRpara nanotecnologia

O sistema Dimension IconIR da Bruker combina a espetroscopia de infravermelhos (IR) em nanoescala e a microscopia de sonda de varrimento (SPM) numa única plataforma para fornecer as mais avançadas capacidades de espetroscopia, imagem e mapeamento de propriedades disponíveis para investigadores académicos e utilizadores industriais. Incorporando décadas de investigação e inovação tecnológica, o IconIR proporciona um desempenho inigualável com base nas capacidades de medição AFM do Dimension Icon®, as melhores do sector. O sistema permite a microscopia correlativa e a imagiologia química com uma resolução melhorada e sensibilidade de monocamada, enquanto a sua arquitetura única de amostras grandes proporciona a máxima flexibilidade de amostras para a mais vasta gama de aplicações. Por exemplo, a nova solução de polímeros IconIR é um pacote tudo-em-um concebido para incluir tudo o que é necessário para responder às principais necessidades de investigação de polímeros. Amostra grande espetroscopia nanoIR do mais alto desempenho Oferece maior flexibilidade e desempenho em todos os tipos de amostras e aplicações. Correlativa mapeamento de propriedades químicas e em nanoescala Fornece dados quantitativos nanoquímicos, nanomecânicos e nanoeléctricos. imagiologia AFM-IR fototérmica Permite a caraterização da mais alta resolução com sensibilidade de monocamada. Num único sistema, o IconIR oferece o mais elevado desempenho para espetroscopia de infravermelhos em nanoescala, resolução de imagem química e sensibilidade de monocamada. Apenas o Dimension IconIR oferece: Espectroscopia nanoIR de alto desempenho com correlação FT-IR precisa e repetível, resolução química <10 nm e sensibilidade de monocamada Imagem química correlativa com modos nanomecânicos e nanoeléctricos PeakForce Tapping®