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Sistema de inspeção Wafer
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Descrição
O Sistema de Inspecção de Bolachas detecta contaminações, ou defeitos e erros, entre os padrões de circuito de uma bolacha de silício utilizando o Sistema SEM ou o Sistema de Campo Escuro.
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Catálogos
Galvanometer Optical Scanner
24 Páginas
Coreless DC Motors
36 Páginas
Minituarized AC Servomotors
16 Páginas
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* Os preços não incluem impostos, transporte, taxas alfandegárias, nem custos adicionais associados às opções de instalação e de ativação do serviço. Os preços são meramente indicativos e podem variar em função dos países, do custo das matérias-primas e das taxas de câmbio.