Microscópio AFM SignatureSPM

ópticoRamande laboratório

O SignatureSPM é o primeiro microscópio construído sobre uma plataforma de caraterização multimodal, integrando um Microscópio de Força Atómica (AFM) automatizado com um espetrómetro Raman/Fotoluminescência, permitindo verdadeiras medições colocalizadas de propriedades físicas e químicas. Através do conhecimento físico e químico combinado obtido numa única medição em tempo real, o investigador pode obter uma análise fiável e abrangente da amostra, com um tempo reduzido para o conhecimento em resultado de um menor manuseamento da amostra e uma aquisição de dados com um elevado nível de confiança, graças à correlação das diferentes medições. Todos os modos AFM incluídos de série Todos os modos AFM estão incluídos no pacote básico do SignatureSPM: Microscopia de Sonda Kelvin, Microscopia de Força de Resposta Piezo, Microscopia de Força Magnética, Nanolitografia, Medições de Curva de Força. Espectrómetro de grande alcance optimizado para Raman e fotoluminescência Concebido para imagens de espetroscopia, o espetrómetro do SignatureSPM assegura uma perda mínima de luz com o seu design acromático e uma impressionante refletividade de luz de 95%. Oferece uma capacidade única para realizar medições Raman e PL precisas e eficientes graças ao seu design versátil que pode acomodar até 3 grelhas para uma ampla cobertura de gama espetral. Verdadeiras medições co-localizadas com "Probe away" O comando de software "Probe away" afasta o cantilever da superfície da amostra para que se possam obter mapas Raman confocais totalmente desobstruídos. Com o comando "Probe back", a ponta do AFM regressa automaticamente ao seu ponto de análise anterior na superfície da amostra.