Microscópio FIB/SEM JIB-4700F
de laboratório3Dde secretária

microscópio FIB/SEM
microscópio FIB/SEM
microscópio FIB/SEM
microscópio FIB/SEM
Guardar nos favoritos
Comparar
 

Características

Aplicações
de laboratório
Técnica de observação
3D
Configuração
de secretária
Outras características
de alta resolução
Ampliação

MÍN: 20 unit

MÁX: 1.000.000 unit

Resolução espacial

4 nm

Catálogos

Não estão disponíveis catálogos para este produto.

Ver todos os catálogos da Jeol

Feiras de negócios

Próximas feiras onde poderá encontrar este fornecedor

Analytica China 2024
Analytica China 2024

18-20 nov 2024 Shanghai (China)

  • Mais informações
    * Os preços não incluem impostos, transporte, taxas alfandegárias, nem custos adicionais associados às opções de instalação e de ativação do serviço. Os preços são meramente indicativos e podem variar em função dos países, do custo das matérias-primas e das taxas de câmbio.