Microscópio SEM JCM-7000 NeoScope™
de laboratóriopara inspeção3D

Microscópio SEM - JCM-7000 NeoScope™ - Jeol - de laboratório / para inspeção / 3D
Microscópio SEM - JCM-7000 NeoScope™ - Jeol - de laboratório / para inspeção / 3D
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Características

Tipo
SEM
Aplicações
de laboratório, para inspeção
Técnica
3D
Configuração
de bancada

Descrição

Os microscópios electrónicos de varrimento de bancada são utilizados numa vasta gama de campos, tais como as indústrias eléctrica, eletrónica, automóvel, de maquinaria, química e farmacêutica. Além disso, as aplicações de MEV estão a expandir-se para abranger não só a investigação e o desenvolvimento, mas também o controlo de qualidade e a inspeção de produtos nos locais de fabrico. Com isto, a procura de uma maior eficiência de trabalho, de uma operação muito mais rápida e fácil e de um maior grau de capacidades analíticas e de medição está a aumentar. O Microscópio Eletrónico de Varrimento de Bancada JCM-7000 foi concebido com base num conceito-chave de "SEM fácil de utilizar, com navegação perfeita e análise em tempo real". O JCM-7000 incorpora três funções inovadoras: "Zeromag" para uma transição suave da imagem ótica para a imagem SEM, "Live Analysis" para encontrar elementos constituintes para uma área de observação de imagem e "Live 3D" para apresentar uma imagem 3D reconstruída ao vivo durante a observação SEM. Quando se coloca o JCM-7000 junto a um microscópio ótico, é possível efetuar uma análise de materiais estranhos e um controlo de qualidade mais rápidos e detalhados. Observação e análise rápidas sem tratamento da amostra com o SEM de bancada JCM-7000! -Introdução à utilização efectiva do modo de baixo vácuo (LV) Porque não experimenta uma observação SEM de espécimes isolantes que não conduzem eletricidade tal como estão, sem qualquer pré-tratamento? Apresentaremos exemplos de utilização efectiva do JCM-7000 em modo de baixo vácuo (LV) para materiais poliméricos, materiais industriais, minerais, alimentos e organismos vivos/plantas.

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