Microscópio SEM JSM-7900F
de varredura com emissão de campode laboratóriode bancada

microscópio SEM
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Características

Tipo
SEM, de varredura com emissão de campo
Aplicações
de laboratório
Configuração
de bancada

Descrição

JSM-7900F Schottky Microscópio Eletrônico de Varredura por Emissões de Campo JSM-7900F é o novo carro-chefe da JEOL FE-SEM que combina imagens de extrema alta resolução, maior estabilidade e excepcional facilidade de uso para qualquer nível de operador em ambiente multiuso. Neo Engine(New Electron Optical Engine) Funcionalidade recentemente desenvolvida que integra sistema de controle de lentes e tecnologia automática, "Neo Engine" (Novo Motor Óptico Eletrônico) é uma característica padrão. Mesmo que a condição ótica dos elétrons seja alterada, há uma mudança negligenciável no alinhamento do feixe, permitindo a aquisição rápida e fácil da imagem em qualquer tensão e corrente de sonda acelerada. O sistema é o principal exemplo da avançada tecnologia óptica electrónica da JEOL. ①Improvement da função de automação Espécimen: Corte transversal de mineral (resinado) moído pela CP, Acc. Vol.: 5kV, Detector: RBED, Ampliação: ×100,000 GBSH-S(GENTLEBEAM™ Modo de polarização de fase de super alta resolução) GBSH é um método que melhora a resolução espacial em qualquer tensão de aceleração. A tensão de polarização máxima de 5kV para o estágio de amostra está disponível pelo GBSH-S recentemente desenvolvido. ※GENTLEBEAM™ é a função que desacelera o feixe de elétrons iluminados e o sinal de elétrons acelerados usando a tensão tendenciosa para a amostra. Novo Detector de Elétrons Backscattered O recém-desenvolvido detector de electrões ultra-sensível com retrodifusão nos fornece uma imagem clara de contraste. A sensibilidade do detector é altamente melhorada e a imagem de alto contraste composicional pode ser observada com baixa tensão de aceleração. Nova Plataforma O novo design de aparência implementa uma pegada compacta. Isto oferece flexibilidade adicional para a instalação do instrumento.

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