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Espectrômetro XRF 2830 ZT
para análise de água

espectrômetro XRF
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Características

Tipo
XRF
Aplicações
para análise de água

Descrição

2830 ZT Análise avançada de comprimento de onda dispersiva XRF O analisador de wafer de fluorescência de raios X dispersiva de comprimento de onda 2830 ZT (WDXRF) oferece a melhor capacidade para medir a espessura e a composição do filme. Projetado especificamente para a indústria de semicondutores e armazenamento de dados, o Analisador de wafer 2830 ZT da PANalytical permite a determinação da composição da camada, espessura, níveis de dopante e uniformidade de superfície para uma ampla gama de wafers de até 300 mm.

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Catálogos

2830 ZT
2830 ZT
12 Páginas
* Os preços não incluem impostos, transporte, taxas alfandegárias, nem custos adicionais associados às opções de instalação e de ativação do serviço. Os preços são meramente indicativos e podem variar em função dos países, do custo das matérias-primas e das taxas de câmbio.