Difratômetro de raios X MiniFlex

para pesquisa

O novo difractómetro de raios X de bancada MiniFlex de sexta geração é um instrumento analítico de difracção de pó polivalente que pode determinar: identificação e quantificação da fase cristalina (ID da fase), percentagem (%) de cristalinidade, tamanho e deformação dos cristais, refinamento dos parâmetros da rede, refinamento Rietveld e estrutura molecular. É amplamente utilizado na investigação, especialmente em ciência dos materiais e química, bem como na indústria para investigação e controlo de qualidade. É a mais recente adição à série MiniFlex de analisadores de difracção de raios X de bancada da Rigaku, que começou com a introdução do sistema MiniFlex XRD original há décadas. Características Novo design de 6ª geração Caixa de radiação compacta e à prova de falhas Fenda variável do feixe incidente Instalação simples e formação do utilizador Sistema de goniómetro alinhado de fábrica Funcionamento com computador portátil Medições: Identificação de fases Quantificação de fases (identificação de fases) Percentagem (%) de cristalinidade Tamanho e deformação do cristalito Refinamento de parâmetros de rede Refinamento Rietveld Estrutura molecular