Microscópio STEM

ópticopara nanocaracterizaçãopara a pesquisa sobre materiais

para a caracterização multimodal de propriedades morfológicas, químicas e estruturais à escala nanométrica de materiais funcionais, películas finas e partículas sintéticas, com um desempenho 4D-STEM excepcional e uma facilidade de utilização sem precedentes. Sincronização de digitalização com imagens de difracção, aquisição de EDS e bloqueio de feixe. Análise e processamento de dados 4D-STEM integrados e quase em tempo real Benefícios de desempenho da precessão do feixe de electrões e quase-UHV Uma nova abordagem à experiência do utilizador STEM 4D-STEM analítico A imagem completa da interacção feixe de electrões - amostra o 4D-STEM é o método de microscopia de eleição para uma verdadeira caracterização multimodal à nanoescala das propriedades dos materiais, como a morfologia, a química e a estrutura. Em cada pixel do conjunto de dados STEM, o TESCAN TENSOR adquire um padrão de difracção e um espectro EDS, rápida e perfeitamente sincronizados. Em conjunto, os dados de difracção e de espectroscopia encapsulam a imagem completa da interacção entre o feixe de electrões e o espécime, a partir da qual se pode deduzir uma vasta gama de propriedades do material. Análise e processamento quase em tempo real de dados 4D-STEM Uma característica verdadeiramente única do TESCAN TENSOR é o Explore, a plataforma integrada do TENSOR para processamento e análise em tempo real de conjuntos de dados de difracção electrónica de varrimento em grande escala. O Explore traz as medições 4D-STEM para os cientistas de materiais, investigadores de semicondutores e análise de falhas, e cristalógrafos, sem necessidade de conhecimentos especializados de óptica STEM ou de análise e pós-processamento de dados 4D-STEM. Os utilizadores avançados têm a possibilidade de ajustar as propriedades ópticas optimizadas predefinidas para cada medição STEM ou 4D-STEM de acordo com as suas preferências. Além disso,