Sistema de inspeção de raios X Phoenix Microme|x Neo

automáticoeletrônico

Alto desempenho em inspeções especiais com microfoco e nanofoco para eletrônica O Phoenix Microme|x Neo e o Nanome|x Neo oferecem tecnologia de raio X 2D em alta resolução, PlanarCT e tomografia computadorizada (CT) 3D em um sistema, possibilitando ensaios não destrutivos (NDT) de componentes eletrônicos – como semicondutores, placas de circuito impresso, baterias de íons de lítio – no setor industrial, automotivo, de aviação e de eletrônica para o consumidor. Com uma engenharia inovadora associada à precisão de posicionamento extremamente alta, o Phoenix Microme|x Neo e o Nanome|x Neo são ideais para inspeções em componentes eletrônicos industriais com raio X para o controle de processos e da qualidade, aumentando a produtividade, para análise de falhas, aumentando a segurança e a qualidade dos seus produtos, e para a R&D, onde surgem as inovações. Anteriormente éramos conhecidos como GE Inspection Technologies. Agora nós somos a Waygate Technologies, uma empresa líder global em soluções de NDT (ensaios não destrutivos), com mais de 125 anos de experiência na garantia da qualidade, segurança e produtividade. O parque de detectores DXR-HD brilhantes e exclusivos da Waygate Technologies: O mais novo detector DXR S100 Pro de grande porte - resolução de pixel superior que define a tecnologia de imagem líder do setor Resolução superior de 100 um pixel, que combina excelente detectabilidade com alta eficiência A grande área ativa de 300 mm x 250 mm expande significativamente a visão e redefine a eficiência da inspeçãoAdequado para uma ampla gama de energias de raios X e aplicações de clientes