Difratômetro SAXS Xeuss 3.0

USAXSWAXSpara pesquisa

A linha de feixe da Próxima Geração para o laboratório Máxima flexibilidade Desempenho final Muito espaço para amostras de ambiente O Xeuss 3.0 é o instrumento de última geração da comprovada família Xeuss e já está instalado nas principais instalações de investigação em todo o mundo. Incorpora todas as inovações mais recentes da Xenocs para capacidades adicionais, flexibilidade e facilidade de utilização. Tamanho, estrutura, forma, orientação... Caracterizar a nanoestrutura de nanomateriais e nanomateriais usando a técnica SAXS/WAXS e USAXS em modo de transmissão ou incidência de pastoreio. - Distribuição granulométrica variando de poucos nanómetros a mais de 350 nm de diâmetro - Taxas de cristalização e estrutura lamelar de polímeros semicristalinos - Análise do tamanho e forma dos tensioactivos ou proteínas em soluções - Organização e orientação de nanomateriais atómicos ou nanoscópicos, em fases a granel ou em superfícies - Estudos de segregação de fases de ligas - Estudos in situ de transições de nanoestruturas Máxima flexibilidade Fornecer ferramentas estruturais a uma grande comunidade de utilizadores com plena capacidade de operação remota e acesso a uma gama única de escalas de comprimento. O desenvolvimento e concepção avançados de nanomateriais requerem caracterização numa grande variedade de escalas de comprimentos. O Xeuss 3.0 oferece tal capacidade de medição até 5 ordens de magnitude em q (vector de onda) através de uma mudança de configurações totalmente motorizada. Qualquer utilizador treinado pode assim operar o sistema remotamente em toda a sua gama de medição para uma determinada amostra ou lote de amostras.