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... principiantes tornam-se peritos de um dia para o outro. A tecnologia de ajuste automático do eixo (auto-calibração) restaura o microscópio para a sua "melhor condição" a pedido. Uma robusta câmara de amostras "draw-out" ...
Hitachi High-Technologies
Resolução espacial: 2,1, 1,6 nm
... verdadeiro corte em série de alta resolução, para fazer face às mais recentes exigências na análise estrutural 3D e para análises TEM e 3DAP. O recém-desenvolvido sistema FIB-SEM da Hitachi, o NX9000, incorpora uma disposição ...
Hitachi High-Technologies
Resolução espacial: 60, 4, 2,8, 3,5 nm
... suportam uma preparação de amostras TEM de alto rendimento e alta qualidade para aplicações de ponta. * Opção Características A deteção de ponto final SEM em tempo real e de alto contraste permite a preparação de amostras ...
Hitachi High-Technologies
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