光学プロフィロメータ ContourX-500

検査用多目的3D

ContourX-500光学式表面形状測定機は、高速で非接触の3次元表面形状測定が可能な世界で最も包括的な自動卓上システムです。ゲージ対応のContourX-500は、比類のないZ軸分解能と精度を誇り、ブルカーの白色光干渉計（WLI）フロアスタンディングモデルが業界で認められている利点を、はるかに小さな設置面積で提供します。精密加工表面や半導体プロセスのQA/QC測定から、眼科やMEMSデバイスの研究開発における特性評価まで、幅広い複雑なアプリケーションに対応するカスタマイズが容易です。 チップ/チルト 光学ヘッド トラッキングエラーを最小限に抑えながら、様々な角度で表面形状を測定します。 最先端の ユーザーインターフェース あらかじめプログラムされたフィルターや分析の豊富なライブラリに直感的にアクセスできます。 統合された 空気分離 スペース効率に優れたフットプリントで最高の測定精度を提供します。 卓越したベンチトップ計測のための設計 ブルカー独自のティップ/チルトヘッドは、生産セットアップと検査に比類ない柔軟性を提供します。オートチップ/チルト機能を顕微鏡ヘッド内の光路と連動させることで、ブルカーは傾きとは無関係に検査ポイントを視線に連動させました。この結果、オペレーターの介入を少なくし、最大限の再現性を提供します。その他のハードウェア機能としては、より大きなスティッチングが可能な革新的なステージデザインと、低ノイズ、より大きな視野、より高い横分解能を実現する1200x1000の測定アレイを備えた5MPカメラがあります。