光学プロフィロメータ

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光学プロフィロメータ | 顕微鏡を正しく選択する
顕微鏡には、主に光学顕微鏡、電子顕微鏡、走査型プローブ顕微鏡の3種類があります。 光学顕微鏡 :光学レンズを使用して画像を形成し、光線を制御しながら試料を照らします。 パラメータ(照明の種類、偏光、スペクトルフィルタリング、空間フィルタリング)を変更して、異なる観測技術を使用できます。 デジタル顕微鏡は、レンズの代わりにカメラが使用される、一種の光学顕微鏡です。 光学顕微鏡の倍率は約1000倍です。 電子顕微鏡 : 試料は電子ビームを使用して照射されます。 倍率は光学顕微鏡よりもはるかに高く、200万倍に達する可能性があります。  電子顕微鏡には主に2種類があります:で透過型電子顕微鏡(TEM)と走査型電子顕微鏡(SEM)です。 走査型プローブ顕微鏡 :、プローブを物体の表面に近づけて、試料の表面のトポグラフィを決定することで構成されています。 使用する顕微鏡によっては、空間分解能が原子スケールに達する場合があります。 例えば原子間力顕微鏡(AFM)または近接場光学顕微鏡(SNOM)があります。
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光学プロフィロメータ
光学プロフィロメータ
ContourX-200

... ContourX-200光学式表面形状測定機は、高度な特性評価、カスタマイズ可能なオプション、使いやすさを完璧に融合し、クラス最高の高速、高精度、再現性の非接触3次元表面形状測定を実現します。FOVの大きな5MPデジタルカメラと電動XYステージを搭載し、2D/3Dの高解像度測定が可能です。比類のないZ軸分解能と精度を誇るContourX-200は、従来の共焦点顕微鏡や競合する標準的な光学式プロファイラの制限を受けることなく、ブルカー独自の白色光干渉法(WLI)技術の業界で認められたあらゆる利点を提供します。 オートメーション 機能 より迅速な測定と分析のためのルーチンを可能にします。 モーター駆動 XYステージ 定量計測のための低ノイズ、高速動作を提供します。 振動に強い コンパクト設計 測定の安定性とゲージを使用できる再現性を提供します。 特長 妥協のないクラス最高の測定精度 ContourX-200光学式形状測定機は、40年以上にわたるWLI独自の技術革新に基づき、定量測定に必要な低ノイズ、高速、高精度、高精度の測定結果を提供します。複数の対物レンズと統合された形状認識機能により、様々な視野とサブナノメートルの垂直分解能で形状を追跡することができます。 ContourX-200は、0.05%から100%の反射率まで、あらゆる表面状況に対応します。新しいハードウェア機能には、より大きなスティッチング機能を実現する革新的なステージ設計が含まれます。 ...

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Bruker Nano Surfaces/ブルカー
光学プロフィロメータ
光学プロフィロメータ
ContourX-100

... ContourX-100光学式プロフィロメータは、クラス最高の価格帯で、高精度で再現性の高い非接触表面形状測定の新たな基準を打ち立てました。数十年にわたるブルカー独自の白色光干渉法(WLI)の技術革新を取り入れた合理的なパッケージで、2D/3Dの高分解能測定が可能です。次世代の機能強化として、新しい5MPカメラとステージの更新により、より大きなスティッチングが可能になりました。また、新しい測定モードUSIにより、精密機械加工面、厚膜、トライボロジー・アプリケーションの利便性と柔軟性がさらに向上しました。ContourX-100より優れた価値を持つベンチトップ・システムは他にありません。 業界最高水準 Z分解能 倍率に左右されることなく、常に正確な測定が可能。 比類のない 計測価値 測定能力に妥協することなく、合理的な設計を実現します。 ユーザーフレンドリー ソフトウェアインターフェース あらかじめプログラムされたフィルターや分析の豊富なライブラリに直感的にアクセスできます。 比類のない計測 WLIは、あらゆる目的に対して、常に究極の垂直分解能を提供します。 ContourX-100は、40年以上にわたる独自の光学技術革新の集大成であり、非接触表面計測、特性評価、イメージングにおける業界のリーダーです。このシステムは、3D ...

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Bruker Nano Surfaces/ブルカー
光学プロフィロメータ
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ContourX-500

... ContourX-500光学式表面形状測定機は、高速で非接触の3次元表面形状測定が可能な世界で最も包括的な自動卓上システムです。ゲージ対応のContourX-500は、比類のないZ軸分解能と精度を誇り、ブルカーの白色光干渉計(WLI)フロアスタンディングモデルが業界で認められている利点を、はるかに小さな設置面積で提供します。精密加工表面や半導体プロセスのQA/QC測定から、眼科やMEMSデバイスの研究開発における特性評価まで、幅広い複雑なアプリケーションに対応するカスタマイズが容易です。 チップ/チルト 光学ヘッド トラッキングエラーを最小限に抑えながら、様々な角度で表面形状を測定します。 最先端の ユーザーインターフェース あらかじめプログラムされたフィルターや分析の豊富なライブラリに直感的にアクセスできます。 統合された 空気分離 スペース効率に優れたフットプリントで最高の測定精度を提供します。 卓越したベンチトップ計測のための設計 ブルカー独自のティップ/チルトヘッドは、生産セットアップと検査に比類ない柔軟性を提供します。オートチップ/チルト機能を顕微鏡ヘッド内の光路と連動させることで、ブルカーは傾きとは無関係に検査ポイントを視線に連動させました。この結果、オペレーターの介入を少なくし、最大限の再現性を提供します。その他のハードウェア機能としては、より大きなスティッチングが可能な革新的なステージデザインと、低ノイズ、より大きな視野、より高い横分解能を実現する1200x1000の測定アレイを備えた5MPカメラがあります。 ...

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Bruker Nano Surfaces/ブルカー
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光学プロフィロメータ
NPFLEX-1000

NPFLEX™は、整形外科医療用インプラントや航空宇宙、自動車、および精密機械加工の各産業の大型試料を測定できる、最も柔軟性の高い非接触3D表面特性解析を提供します。また、接触型装置で可能な範囲を上回るレベルのデータ密度、分解能、および再現性で測定できるので、相補的テクノロジーまたはスタンドアロン計測ソリューションのどちらとしても理想的です NPFLEX は、 試料を破損することなく、さまざまな大きさや形状の試料を分析で きるように特別に設計されています。材料のタイプに左右されない ...

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Bruker Nano Surfaces/ブルカー
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光学プロフィロメータ
DektakXT®

... DektakXT®スタイラスプロフィロメーターは、4Åの繰り返し精度と最大40%のスキャン速度の向上を可能にする革新的なベンチトップ設計を採用しています。このスタイラスプロファイラの画期的な性能は、50年以上にわたるDektak®の技術革新と業界リーダーシップの集大成です。DektakXTは、業界初の技術を組み合わせることで、究極の性能、使いやすさ、価値を実現し、研究開発から品質管理まで、より優れたプロセスモニタリングを可能にします。DektakXTに組み込まれた技術的ブレークスルーは、マイクロエレクトロニクス、半導体、太陽電池、高輝度LED、医療、材料科学業界にとって重要なナノメートルレベルの表面測定を可能にします。 4オングストローム 繰り返し精度 業界をリードする精度を実現 シングルアーチ デザイン 画期的なスキャン安定性を実現 セルフアライニング スタイラス 楽にチップ交換が可能 特徴 データ収集と分析を加速 独自のダイレクトドライブスキャンステージを採用したDektakXTは、業界トップクラスの性能を維持しながら、測定スキャン時間を40%高速化しました。64ビット並列処理ソフトウェアVision64により、3Dファイルの読み込みを高速化し、フィルターやマルチスキャンデータベースの解析を高速化します。 再現性の高い測定を実現 シングルアーチ構造の採用により、DektakXTはより頑丈になり、環境ノイズの影響を最小限に抑えます。DektakXTのアップグレードされた「スマートエレクトロニクス」は、温度変化を低減し、最新のプロセッサを採用することで、誤差を誘発するノイズを最小限に抑え、10nm未満のステップ高さの測定が可能な、より堅牢なシステムとなっています。 ...

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Bruker Nano Surfaces/ブルカー
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Dektak XTL™

... Dektak XTL™ スタイラスプロフィロメーターは、最大 350mm x 350mm のサンプルに対応し、Dektak® の高い繰返し精度と再現性を大判ウェハーおよびパネル製造にもたらします。Dektak XTLは、空気圧防振構造と、簡単にアクセスできるインターロック式ドアを備えた完全密閉型ワークステーションを備えており、今日の厳しい製造現場環境に最適です。また、デュアルカメラアーキテクチャーにより空間認識能力を高め、高い自動化レベルにより製造スループットを最大化します。 堅牢 自動化セットアップと操作 フィデューシャルと無制限の測定部位をプログラムすることで、スループットを最大化し、エラーを最小限に抑えます。 デュアル カメラコントロール 測定のセットアップを簡素化し、関心ポイントへのナビゲーションを高速化。 簡単 解析とデータ収集 分析ルーチンを自動化し、複雑なサンプルについて必要な特徴のみをレポートします。 機能 強化されたソフトウェア機能により、Dektak ...

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Bruker Nano Surfaces/ブルカー
光学プロフィロメータ
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TopMap Micro.View®

TopMap Micro.View は、操作性に優れたコンパクトな光学式形状測定器です。強力な計測ソリューションは、卓越した機能および優れたコストパフォーマンスを持っています。 100 ミリメートルの z 方向測定レンジを持つ Continuous Scanning Technology(CST) は、複雑な形状をナノメートルの分解能で測定することを可能にします。この便利な卓上型のセットアップは、測定を容易にして、かつ高速化する高性能のフォーカスファインダを含むエレクトロニクスを持っていることを特徴としています。 コンパクトなセットアップで表面を測定 三次元形状、粗さ、および表面詳細の非接触測定 CST ...

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Polytec
光学プロフィロメータ
光学プロフィロメータ
Micro.View®+

TopMap Micro.View +は、次世代の光学式形状測定器です。この総合的なワークステーションは、モジュール方式のデザインによって、それぞれのアプリケーションの要求に合わせた特有の構成を可能にします。Micro.View +は、表面粗さ、表面の詳細、および微細構造の形状測定について、詳細な分析を提供します。3D データをカラー情報と組み合わせて、欠陥を詳細に記録するなどの見事な視覚化や広範囲の分析を実現します。高解像度カメラは、非常に詳細な設計表面の 3D ...

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Polytec
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光学プロフィロメータ
TopMap Pro.Surf

TopMap Pro.Surfは、迅速かつ正確に高精度で形状偏差を測定します。 TopMap Pro.Surf はハイエンド ソリューションであり、精密製品の表面を測定するために最適です。 再現性が高いため、計測チャンバや生産ラインにおいても測定できます。TopMap Pro.Surfは優れた空間分解能と、テレセントリックレンズを有するため、あらゆるアプリケーションにおいて、平坦度、段差、平行度などのパラメータを正確に測定できます 概要 迅速かつ正確な3D表面特性評価 非接触測定とトレーサブルな測定結果 反射特性の異なる面もフィルタを使用して測定可能 最大測定範囲230 ...

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Polytec
光学プロフィロメータ
光学プロフィロメータ
TopMap Pro.Surf+

TopMap Pro.Surf はハイエンド・ソリューションであり、粗さ測定センサを搭載することによりオールインワンシステム TopMap Pro.Surf +としてアップグレードされました。TopMap Pro.Surf +は単一パスで形状偏差と粗さを迅速かつ正確に測定可能です。再現性が高いため、計測チャンバや生産ラインにおいても測定できます。 Pro.Surf +はすばやく簡単に精密製品の表面を測定できるが理想的なシステムです。 概要 迅速かつ正確な3D表面特性評価と粗さ測定 オールンワンシステムは、重要な表面情報を一切見落としません 非接触測定とトレーサブルな測定結果 反射特性の異なる面もフィルタを使用して測定可能 最大測定範囲230 ...

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Polytec
光学プロフィロメータ
光学プロフィロメータ
TopMap Metro.Lab

ポリテックのMetro.Labは、深い測定深度とナノメートル分解能を有する高精度な白色光干渉計(コヒーレンス走査干渉計)です。柔らかく繊細な材料の、広い範囲における平坦度、段差、平行度の非接触測定に最適です。 Metro.Labの測定深度は最大70 mmであり、測定が困難と思われる場合も、サブナノメートル分解能での測定を実現します。 Metro.Labは研究室でも生産工程でも使用できます。また接触式測定システムを使用して実行していた測定案件にも、使用できます。さらに他のTopMapシステムと同様に、オープン ...

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Polytec
光学プロフィロメータ
光学プロフィロメータ
S wide

分解能: 530, 460 nm
長さ: 600 mm
: 550 mm

S wideは、最大300×300mmの大面積サンプルでも素早く計測できる測定システムです。デジタルマイクロスコープと高分解能形状測定装置両方の長所を兼ね備え、ボタンひとつでデータを取得できる非常に使い易いデザインになっています。 ソリューション ワンショット 光学式3D形状測定システム 高度な製造・加工 考古学・古生物学研究 大衆消費電化製品(CE) 医療機器 モールディング 光学 時計

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Sensofar Metrology
光学プロフィロメータ
光学プロフィロメータ
S neox

倍率 : 20, 5, 100, 50, 150 unit
分解能: 630, 530, 460, 575 nm
長さ: 610 mm

新しい S neox は、性能、機能、効 率、デザインの全ての面で既存の 光学3Dプロファイリング顕微鏡を 凌駕する、クラス最高の面形状計 測システムです。 さらに速く スマートでユニークな新しいアル ゴリズムとカメラにより、全てをさ らに速く実行できます。データ取 得速度は 180fps で、標準測定 時間は5倍も短縮されました。新 しいS neoxは市場で最速の面形 状測定システムです。

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Sensofar Metrology
光学プロフィロメータ
光学プロフィロメータ
S neox Five Axis

倍率 : 5, 150, 20, 50, 100 unit
分解能: 630, 530, 460, 575 nm
長さ: 635 mm

S neox Five Axis 光学式3次元測定装置は、高精度回転ステージモジュールと、S neox 3D測定顕微鏡の高度な検査および解析機能を組み合わせています。これにより、指定された位置・角度で自動的に3D表面形状測定を行い、完全な3D形状計測が可能になります。 測定原理 幅広いスケールをカバー S neoxの3D測定技術は、形状(Ai焦点移動)、サブナノメーター粗さ(干渉計)、高い水平方向および垂直方向の解像度を必要とする寸法精度(共焦点)測定まで広範囲のスケールをカバーします。 測定原理 最高の多機能性 S ...

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Sensofar Metrology
光学プロフィロメータ
光学プロフィロメータ
S lynx

倍率 : 3, 10, 50, 100, 150 unit
分解能: 550 nm
長さ: 365 mm

S lynxは、産業および研究用に開発された非接触3D表面プロファイラの新製品です。多用途のコンパクトなシステムとして開発されました。S lynxは様々な表面スケールの異なる表面性状、構造、粗さ、うねりを測定できます。S lynxの多用途性により、幅広い範囲の高品質な表面測定に使用できます。Sensofar独自の3-in-1測定技術により理想的な性能が保証されています。また、関連するSensoSCANソフトウェアにより驚くほど直感的に使用でき、さらに高い性能を補完しています。 用途 自動車 民生品のエレクトロニクス エネルギー LCD 材料科学 マイクロエレクトロニクス マイクロマニュファクチャリング 微古生物学 光学 機械工具 半導体 時計製造 3-in-1テクノロジー 共焦点法 共焦点プロファイラは、滑らかな表面から非常に粗い表面に至るまで、様々な性状の表面を測定するために開発されました。共焦点プロファイリングは、光学プロファイラで獲得できる最高レベルの水平解像度を実現します。したがって、空間サンプリングを微小寸法測定に理想的な0.01 ...

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デジタル式プロフィロメータ
デジタル式プロフィロメータ
Pixie

長さ: 800 mm
: 695 mm
高さ: 890 mm

... 高速性と柔軟性を備えたPixie QIは、あらゆる表面の正確な測定を実現します。 スピード 柔軟性 あらゆる表面タイプ 測定の可能性 スピードと柔軟性 インライン品質検査のための生産速度測定と分析。表面形状と強度は、サブミクロンレベルで最大2.5 kHzまでサンプリングできます。 お客様固有のニーズに対応するカスタマイズされた自動化ソリューション。追加電動ステージ、ピック&プレースロボット、または統合統計的工程管理(SPC)と組み合わせます。 あらゆる表面タイプと測定の可能性 光沢面、マット面、鏡面、あらゆる色など、難しい素材や形状の測定が可能です。また、曲面や多層の透明面の測定も可能です。 厚み、段差、直径、位置決め、平坦度、プロファイル、ギャップ、輪郭比較、粗さの寸法測定。斑点、不純物、傷、気泡、ボイド、箔の連続性などの視覚的欠陥。 技術仕様 軸移動(度) 2-5 2-5 ...

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