ラマン顕微鏡 Innova-IRIS

AFM素材研究用卓上

ブルカーのInnova-IRIS（Integrated AFM-Raman Imaging System）は、業界をリードするAFM性能とBruker独自のTERSプローブの組み合わにより、世界で唯一の完全な保証付きチップ増強ラマン分光（TERS）ソリューションを提供します。レニショーのinViaマイクロラマンシステムとシームレスに統合されており、各コンポーネントの機能を完全に維持しています。その結果、相関性のあるマイクロおよびナノスケールの特性マッピングのための生産性の高い完全に統合されたプラットフォームが実現し、AFM アプリケーションの限界をナノスペクトロスコピーとナノ化学分析にまで拡大します。 完全なSPM機能を備えた高性能TERSを提供します。 独自 テルスプローブ 最高の空間分解能と保証された TERS に対して、スペクトル干渉ゼロを示す。 合理化 ハードウェアおよびソフトウェア 従来の TERS セットアップの複雑さを軽減します TERSを可能にする特別設計 この論文では、オフアクシス反射ジオメトリが、チップシャドーイングと偏光効果を十分に考慮しながら、光捕捉を最大化するための最良のソリューションであることが証明されています。Innova-IRISは、プローブの前面からチップとサンプルの接合部にアクセスし、障害物のない理想的な光路を提供する新しい光学アーキテクチャを採用しています。Bruker Innova サンプルスキャンAFM とレニショーの inVia マイクロラマンシステムの共同設計による統合は、スキャン中の光学的な「ホットスポット」アライメントを独自に保持し、統合型 TERS イメージングの厳しい要件を可能にします。このような繊細な研究に必要な長い信号積分時間にもかかわらず、チップの完全性と位置決めが維持されます。 レニショーの inVia と Innova-IRIS を統合することで、AFM およびラマン顕微鏡の性能、パワー、柔軟性を完全に維持しています。それぞれが、独自のフル機能を備えたリアルタイム制御およびデータ解析パッケージを使用しています。その結果、ナノスケールのトポグラフィー、熱、電気、機械的情報の相関関係を補完する単一の統合システムを実現しています。