ナノ特徴づけ用顕微鏡 Dimension XR
走査型プローブ高解像度

ナノ特徴づけ用顕微鏡
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特徴

応用
ナノ特徴づけ用
オプションとアクセサリー
高解像度

詳細

ブルカーのディメンションXR走査型プローブ顕微鏡(SPM)システムは、数十年にわたる研究と技術革新を取り入れています。日常的な原子欠陥の分解能、PeakForce Tapping、Data Cubeモード、SECM、nanoDMAなどのユニークな技術を搭載し、最高の性能と能力を提供します。Dimension XRファミリのSPMは、これらの技術をパッケージ化して、ナノメカニカル、ナノ電気、電気化学アプリケーションに対応するターンキーソリューションを提供します。空気、流体、電気、化学反応性環境での材料や活性ナノスケールシステムの定量化は、これまでになく容易になりました。 空気中および液体中でのルーチン最高解像度 液体中の点欠陥、剛性マップから、空気中の原子分解能、導電率マップまで、Dimension XRはすべての測定において最高の分解能を提供します。 その中核をなすDimension XRは、ブルカー独自のPeakForce Tapping技術を使用して、結晶欠陥の解像度、ポリマーの分子欠陥、DNAの二重らせん構造の小溝など、ハードマターとソフトマターの両方の性能ベンチマークを達成しています。この技術は、何百枚もの画像で粗面化されたガラスの微小なアスペリティの解決にも同様に重要な役割を果たしています。 Dimension XRは、PeakForce Tappingと非常に高い安定性、独自のプローブ技術、そしてブルカーの数十年に渡るティップスキャニングシステム開発の経験を組み合わせたものです。その結果、サンプルサイズ、重量、培地に関係なく、あらゆるアプリケーションで一貫して最高解像度のイメージングを実現します。

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カタログ

*価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。