レーザー回折による寸法測定器 ANALYSETTE 22 NeXT Micro

品質管理用

全面的に改良されたANALYSETTE 22 NeXT Microの測定範囲は0.5～1500 μmで、あらゆる測定作業に最適です。測定設計の見直しにより、ANALYSETTE 22 NeXTは特にコンパクトで場所をとりません。測定時間は、ほとんどの測定で1分未満です（残渣のない確実な洗浄を含む）。 粒度分析の完全な評価は自動的に行われ、結果は明確に整理され、画面に直接表示されます。もちろん、お客様のニーズに合わせてカスタマイズしたレポートを保存・印刷することもできます。特に簡単な操作と洗浄、短い分析時間、再現性の高い分析結果、湿式分散中の温度やpH値などの追加パラメータの記録など、お客様のご要望に合ったモデルで、決定的な利点を得ることができます。 代表的なアプリケーション ANALYSETTE 22 NeXT Micro は、生産管理、品質管理、研究開発、製造工程の管理など、特に効率的な粒度分布測定に最適です。 保証された再現性 ISO 13320（粒度分析-レーザー回折法）は、レーザーパーティクルサイザーの再現性、再現性、測定精度に関する最低基準をガイドラインとして定義し、測定結果の検証を規定しています。FRITSCH ANALYSETTE 22 NeXTは、ISO 13320の要求事項を明らかに上回っています。 FRITSCHの特許 現世代のANALYSETTE 22 NeXTは、これまでのすべてのFRITSCHレーザーパーティクルサイザーと同様に、FRITSCHが発明したリバースフーリエ方式で動作します。