レーザー回折による寸法測定器 ANALYSETTE 22 NeXT Nano

品質管理用粉末用ウェット タイプ

ナノ領域までの自動粒度分布測定：比類のないシンプルさと手頃な価格 全面的に改良されたANALYSETTE 22 NeXT Nanoは、測定範囲が0.01～3800 μmと非常に広く、検出器システムを追加することで、微小粒子に対して最高の精度と感度を実現します。測定設計の見直しにより、ANALYSETTE 22 NeXTは特にコンパクトで場所をとりません。測定時間は、ほとんどの測定で1分未満です。 粒度分析の完全な評価は自動的に行われ、結果は明確に整理され、画面に直接表示されます。もちろん、お客様のニーズに合わせてカスタマイズしたレポートを保存・印刷することもできます。特に簡単な操作と洗浄、短い分析時間、再現性の高い分析結果、湿式分散中の温度やpH値などの追加パラメータの記録など、お客様のご要望に応じたモデルで、決定的な利点を得ることができます。 代表的なアプリケーション ANALYSETTE 22 NeXT Nano は、生産管理、品質管理、研究開発、製造工程の管理など、特に効率的な粒度分布測定に最適です。 保証された再現性 ISO 13320（粒子径分析-レーザー回折法）は、レーザーパーティクルサイザーの再現性、再現性、測定精度に関する最低基準をガイドラインとして定めており、測定結果の検証を規定しています。