自動サンプル準備システム EM RES102
研究室用透過型電子顕微鏡卓上

自動サンプル準備システム
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特徴

操作
自動
応用
研究室用, 透過型電子顕微鏡
設定
卓上

詳細

ライカEM RES102は、試料の薄膜化、洗浄、研磨、斜面のカット、構造化など、最高レベルの柔軟性を備えています。独自のイオンビームミリングシステムは、TEM、SEM、LMサンプルの前処理を1台のベンチトップユニットで行うことができます。 多彩なサンプルホルダーにより、多様なアプリケーションに対応します。ライカEM RES102は、高エネルギーのイオンビームミリングに加えて、低エネルギーのイオンビームを使用した非常に穏やかなサンプル処理にも使用できます。

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カタログ

EM RES102
EM RES102
12 ページ
EM TXP
EM TXP
10 ページ
*価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。