ICP-MS分光器 Element™ series

研究用金属分析用磁気セクタ

製品概要
スペクトルのノイズを除去し、トレースレベルでのマルチ元素分析を簡素化するには、Thermo Scientific™ Element™ Seriesの高分解能ICP‑MSが最適です。Element 2およびElement XRはセクターフィールド型ICP‑MSで、mg/Lからサブpg/Lまでの定量分析を提供し、半導体、地質、材料科学のラボに適しています。

Element 2およびElement XRは高い質量分解能によりスペクトル干渉をクラス最高レベルで除去し、複雑な試料前処理や反応性ガスを必要とせずに、正確な同位体比測定と信頼性のある定量を実現します。

高質量分解能（セクターフィールド）は、質量対電荷比(m/z)のわずかな差を利用して、解析対象イオンと重なった干渉イオンを物理的に分離するため、様々なマトリックスやトレース濃度での定量および同位体分析が可能です。

Elementシリーズは操作とメソッド開発が容易でありながら高度な性能と信頼性を両立しており、最先端の研究・計測機関や高度なルーチン分析ラボのプラットフォームとして適しています。

特徴と利点

• 高い質量分解能：同位体信号をスペクトル干渉から分離し、柔軟な分析性を保ちながら清澄な元素スペクトルを取得。
• 視覚的に測定の正確性を確認できる、簡便な分析手法。
• 反応性ガスを用いない物理的な干渉除去。
• 高感度：pg·L‑1レベルまでの正確なマルチ元素分析；Element XRは線形ダイナミックレンジを約3桁拡張。
• レーザーアブレーション、HPLC、GC、CE、FFFなどの一過性マルチ元素信号に適合。
• 高精度の同位体比測定。
• 24時間稼働の生産管理や先進研究に対応する信頼性と堅牢性。

ラインナップ（カタログ表）
カタログ番号 | モデル
IQLAAMGADVFABWMAFC | Element 2
IQLAAMGADVFABWMAFB | Element XR

技術仕様

• シリーズ：Element™ Series HR-ICP-MS
• モデル：Element 2
• タイプ：セクターフィールド型ICP質量分析計
• ユニットサイズ：各
• 濃度レンジ：mg/L～サブpg/L
• 高質量分解能能力（セクターフィールド；典型的にR ≈ 10,000以上）
• 拡張線形ダイナミックレンジ（Element XRはレンジを約3桁拡張）
• 適用分野：半導体、地質、材料科学ラボ；レーザーアブレーション等の一過性信号（HPLC、GC、CE、FFF）
• 主な利点：物理的な干渉除去（反応性ガス不要）、超高感度マルチ元素分析、高精度同位体比
• カタログ番号（ページ上の主なバリアント）：IQLAAMGADVFABWMAFC