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分解能: 0.1, 0.11, 0.25, 0.07, 0.16 nm
... "NEOARM"は、当社独自の技術で開発された冷陰極電界放出形電子銃（Cold-FEG）と高次の収差まで補正可能な新型球面収差補正装置（ASCOR）を標準搭載し、200 kVの高加速電圧だけでなく30 kVの低加速電圧においても原子分解能での観察を実現しました。 また、当社独自の収差補正アルゴリズムを開発し高速かつ正確な収差補正を自動的に行うシステムを搭載しました。これにより、ハイスループットな原子分解能観察を提供します。 さらに、加速電圧によらず高い軽元素のコントラストが得られる新型STEM検出器を搭載しました。これにより軽元素のコントラストを向上させゆく新たなSTEMイメージング手法（e-ABF法）が可能となり、軽元素を含む材料の明瞭なコントラスト観察が容易になります。 昨今、主流となっておりますリモート操作のご要求に応えるため、本体と操作卓を分離し当社の新しいコンセプトカラーであるピュアホワイトとJEOLシルバーを採用し、より洗練されたフォルムデザインに仕上がりました。 "NEOARM"に搭載されたASCORは、従来の補正装置において分解能を制限する主要因であった高次収差 ...
Jeol
倍率 : 10 unit - 1,500,000 unit
分解能: 0.2, 0.14 nm
... カメラ 瞬Flashカメラとコラボレーションすることで取得画素数の制限が無くリミットレスな広域パノラマ写真を自動で撮影をすることが可能となりました。 新機能 光学 顕微鏡画像リンク機能 Picture Overlay 光学 顕微鏡などであらかじめ取得したデジタル画像を電子 顕微鏡像に重ねて表示することができます。これにより光学 顕微鏡で観察した蛍光箇所の高分解能観察を容易に行うことが可能です。 新デザイン ピュアホワイトカラーとLEDランプのコラボレーション JEOLのブランドカラ―である ...
Jeol
倍率 : 50 unit - 1,200,000 unit
分解能: 0.2, 0.14 nm
幅: 840 mm
... 加速電圧120kVの透過電子 顕微鏡(TEM)は、生物学や高分子などのソフトマテリアル分野で広く使用されています。JEM-120iは、「コンパクト」、「使いやすさ」、「拡張性」をコンセプトに新たに開発しました。外観も一新し、操作からメンテナンスまで、誰でも簡単に使える便利なツールに進化しました。 特長 コンパクト JEM-120iは、大幅な小型化により、フィラメント交換位置や試料ホルダーの挿入位置が従来の装置より低くなりました。新開発のカートリッジ式フィラメントユニットにより、誰でも簡単・安全 ...
Jeol
... JSM-IT810シリーズFE-SEMは、汎用性と高空間分解能を備えた自動化装置です。 イメージングとEDS分析のためのノーコーディング自動化が組み込まれており、合理的で効率的なワークフローを実現します。 新機能により、すべてのSEMユーザーに高品質なデータと充実したユーザーエクスペリエンスを提供します。 機能には、SEM自動調整パッケージ、台形補正機能（EBSD測定に便利）、表面トポグラフィ観察用のライブ3D表面再構成などがあります。 JSM-IT810シリーズにより、FE SEMの操作はかつてないほど簡単になりました。 特長 自動観察・解析機能 ...
Jeol
分解能: 0.5 nm - 3 nm
... JSM-IT800は、高分解能観察を実現するための "インレンズショットキーPlus電界放出形電子銃" と次世代型電子光学制御システム "Neo Engine"、高速度元素マッピングを実現するために使いやすさを追求したGUI "SEM Center" に自社製EDSを組込んだシステムを共通のプラットフォームとしています。 SEMの対物レンズをモジュールとして置き換えることで、お客様の様々なニーズに応じた装置を提供します。 JSM-IT800には、対物レンズの違いにより、汎用FE-SEMであるハイブリッドレンズバージョン ...
Jeol
... 卓上走査電子 顕微鏡は電機・電子、自動車・機械、化学・薬品を主体としたさまざまな分野で利用が広がっています。研究開発はもちろん、品質管理、物品検査といった製造現場と近接した職種で活用され、近年さらなる作業効率の向上、操作の簡便性、分析や計測性能の強化が求められています。 こうしたニーズに応え、JCM-7000 NeoScope™は、「誰でもSEM/EDSを操作できる」がコンセプトの 卓上走査電子 顕微鏡（ 卓上SEM）として開発されました。 光学像を拡大すればSEM像が観察できる「Zeromag ...
Jeol
倍率 : 150, 10,000, 100, 500, 5,000 unit
分解能: 3, 15 nm
... 査電子 顕微鏡 (SEM) は研究だけでなく、品質保証や製造現場で欠かせないツールなっています。 そのような現場では、同じ観察作業を繰り返し行う必要があり、工程の効率化が求められてきました。 JSM-IT510は新たに加わったSimple SEM機能では、従来SEM観察に必要とされたマニュアルによる繰り返し作業を 「おまかせ」 出来ます。SEMの観察作業をより効率よく、より楽に行えるようになりました。 特長 撮影したい視野を選ぶだけ Simple ...
Jeol
倍率 : 20 unit - 1,000,000 unit
分解能: 4 nm
... 三次元可視化が可能です。 ステージリンケージ機能 大気中ピックアップシステム（オプション）とのステージリンケージ機能により簡単にTEMサンプル摘出ができます。 ピクチャーオーバーレイシステム 大気中ピックアップシステムに搭載された光学 顕微鏡像をFIB像にオーバーレイ表示することで、FIB加工位置の指定が容易になります。 関連リンク 特設サイト 特殊試料ホルダー 仕様・オプシ ...
Jeol