Leicaの電子顕微鏡用サンプル準備システム

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自動サンプル準備システム
自動サンプル準備システム
EM TIC 3X

... ユニークなトリ プルイオンビーム シス テムによる加工を最適化させ、効率よく高品質な断面ミリングができます。さらにマルチ サン プル ステージを用いれば、最大 3 個の試料を 1 セッションで処理が可能です。 柔軟な シス テム – 様々なニーズに対応 試料作製のニーズに合わせて試料 ステージを選択可能なことが、ライカ ...

自動サンプル準備システム
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EM KMR3

... ライカ EM KMR3は使いやすく、割断後にスコアリング機構は 自動的にスタートポジションに戻るため、操作ミスが避けられます。 再現性が高く、比類のないナイフ品質 割断サイクル中、割断ヘッドによって棒ガラスの両側に正確に同じ力を加えます。 容易なハンドリング 独自のドロワー機構により、特別なツールを使用しなくてもガラスナイフを安全かつ容易に取り出せます。 簡単な操作 割断およびスコアリング機構の 自動リセットにより、誤操作の発生を最小限にします。 ...

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