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Leicaの電子顕微鏡用サンプル準備システム
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
... ユニークなトリ プルイオンビーム シス テムによる加工を最適化させ、効率よく高品質な断面ミリングができます。さらにマルチ サン プル ステージを用いれば、最大 3 個の試料を 1 セッションで処理が可能です。 柔軟な シス テム – 様々なニーズに対応 試料作製のニーズに合わせて試料 ステージを選択可能なことが、ライカ ...
... ライカ EM KMR3は使いやすく、割断後にスコアリング機構は 自動的にスタートポジションに戻るため、操作ミスが避けられます。 再現性が高く、比類のないナイフ品質 割断サイクル中、割断ヘッドによって棒ガラスの両側に正確に同じ力を加えます。 容易なハンドリング 独自のドロワー機構により、特別なツールを使用しなくてもガラスナイフを安全かつ容易に取り出せます。 簡単な操作 割断およびスコアリング機構の 自動リセットにより、誤操作の発生を最小限にします。 ...