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Comprimento de onda: 120 nm - 320 nm
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2830 ZT Solução de metrologia de filme fino de semicondutores avançados O analisador de wafers de fluorescência de raios X por dispersão em comprimento de onda (WDXRF) 2830 ZT oferece recursos de última geração para medir a espessura ...
Comprimento de onda: 185 nm - 900 nm
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Comprimento de onda: 320 nm - 1.000 nm
Comprimento: 27 cm
Largura: 33 cm
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Focused Photonics Inc.
Comprimento de onda: 190 nm - 1.000 nm
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