A Angstrom Advanced estabelece o padrão em elipsometria - trazendo o melhor da tecnologia de elipsometria aos preços mais acessíveis. A Angstrom Advanced oferece uma gama completa de elipsómetros para medições da espessura de películas finas, caraterização ótica do índice de refração e análise do coeficiente de extinção (n & k). Os elipsómetros da Angstrom Advanced Inc podem ser utilizados para muitas aplicações diferentes e são utilizados em alguns dos laboratórios mais prestigiados, como o MIT, a NASA, a UC Berkeley, a Universidade de Yale, a Universidade de Duke, o NIST e muitos outros.
O PHE101 é o mais recente elipsómetro de comprimento de onda discreto com muitas características novas, tais como biblioteca de materiais, ângulo variável amplo, um segundo laser para alinhamento e um software potente que torna o elipsómetro PHE101 de elevada precisão e repetição.
Excelente precisão e repetição
Funcionamento rápido do analisador rotativo.
Software potente com biblioteca de materiais
Ângulo variável mais amplo 10-90°
A focagem automática compensa a topografia da amostra e o desalinhamento do "arco" da bolacha
Elevada estabilidade e reprodutibilidade do ângulo medido, melhor que 0,01°
Velocidade de medição inferior a 1 segundo
O elipsómetro PHE101 é um elipsómetro de comprimento de onda discreto ideal concebido para medir o índice de refração, o coeficiente de extinção (n & k) e a espessura de películas de uma ou várias camadas.
O elipsómetro PHE101 efectua leituras rápidas e precisas graças ao seu analisador/detetor ótico de precisão e à sua conceção mecânica estável. O elipsómetro PHE101 é fornecido completo com um pacote de software Windows integrado, que aumenta ainda mais a velocidade e a facilidade de utilização do instrumento.
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