Microscópio FIB NX9000
FIB/SEMde laboratóriopara pesquisa

Microscópio FIB - NX9000 - Hitachi High-Tech Europe GmbH - FIB/SEM / de laboratório / para pesquisa
Microscópio FIB - NX9000 - Hitachi High-Tech Europe GmbH - FIB/SEM / de laboratório / para pesquisa
Microscópio FIB - NX9000 - Hitachi High-Tech Europe GmbH - FIB/SEM / de laboratório / para pesquisa - imagem - 2
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Características

Tipo
FIB
Aplicações
de laboratório, para pesquisa, biológico
Técnica
3D
Configuração
de piso
Fonte de elétrons
de emissão de campo frio
Outras características
de alta resolução, de elevado contraste
Resolução espacial

1,6 nm, 2,1 nm, 4 nm

Descrição

Neste sistema único, as colunas Ga-FIB e FE-SEM estão em ângulo reto entre si. Esta configuração é ideal para aplicações em que grandes volumes (tecidos biológicos, materiais com grandes estruturas granulares, componentes de semicondutores, etc.) devem ser analisados em 3D sem distorção e com a mais alta resolução, mesmo com campos de visão muito amplos. a análise EBSD 3D também pode ser efectuada com uma amostra completamente estacionária, ou seja, sem movimento da amostra entre o corte FIB e a análise da camada EBSD.

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* Os preços não incluem impostos, transporte, taxas alfandegárias, nem custos adicionais associados às opções de instalação e de ativação do serviço. Os preços são meramente indicativos e podem variar em função dos países, do custo das matérias-primas e das taxas de câmbio.