Microscópio SEM SU9000

de laboratóriode alta resolução

A fonte de Emissão de Campo Frio é ideal para a obtenção de imagens de alta resolução com um tamanho de fonte e dispersão de energia reduzidos. A tecnologia inovadora da pistola CFE contribui para o melhor FE-SEM com um brilho e estabilidade de feixe superiores, proporcionando imagens de alta resolução e análise elementar de alta qualidade. O design exclusivo da lente de objeto tem capacidade para EELS e difração. Visão geral O SU9000 é o novo SEM premium da HITACHI. Possui uma ótica de electrões única, com a amostra posicionada dentro de um espaço entre as partes superior e inferior do pólo da lente objetiva. Este conceito de verdadeira lente - combinado com a próxima geração da tecnologia de emissão de campo frio da HITACHI - garante a maior resolução possível do sistema (resolução SE de 0,4 nm a 30 kV, 1,2 nm a 1 kV sem necessidade de tecnologia de desaceleração do feixe [0,8 nm com desaceleração do feixe]) e estabilidade. Para tornar este poder de resolução utilizável em aplicações práticas no seu laboratório, o SU9000 utiliza uma plataforma de amostras de entrada lateral ultra-estável semelhante aos sistemas TEM de topo de gama e incorpora amortecimento de vibrações optimizado e uma cabina fechada para proteger a ótica de electrões do ruído ambiental. Para além disso, o conceito de vácuo limpo do SU9000 oferece um nível de vácuo na pistola e na câmara de amostras que é uma ordem de grandeza melhor do que a geração anterior, minimizando assim os artefactos de contaminação das amostras (a limpeza eficaz das próprias amostras antes da observação pode ser conseguida utilizando o limpador de amostras ZONESEM da Hitachi). Para além da resolução pura e insuperável, o SU9000 está também equipado com um notável sistema de deteção 2+2 para observações da superfície, composição e transmissão da amostra.