Microscópio óptico JEM-2200FS
TEMbiológicopara pesquisa

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Características

Tipo
óptico, TEM
Aplicações
para pesquisa, biológico
Técnica de observação
3D
Configuração
de piso
Ampliação

MÍN: 2.000 unit

MÁX: 1.500.000 unit

Resolução espacial

MÍN: 0,1 nm

MÁX: 0,31 nm

Descrição

O JEM-2200FS, um microscópio eletrónico analítico de última geração, está equipado com uma pistola de emissão de campo (FEG) de 200 kV e o filtro de energia na coluna (filtro Omega) que permite uma imagem de perda zero, onde os electrões inelásticos são eliminados, resultando em imagens nítidas com elevado contraste. E as imagens filtradas por energia formadas com electrões de baixa perda ou energia de perda central fornecem informações sobre o estado químico ou elementar de uma amostra. Além disso, está disponível espetroscopia para análise elementar e análise química de amostras. Filtro de energia na coluna (filtro Omega) O filtro de energia na coluna permite obter imagens com filtro de energia e espectros de perda de energia de electrões. O filtro optimizado permite obter imagens filtradas sem distorção. Sistema de controlo Os principais componentes do JEM-2200FS, tais como o sistema ótico, a plataforma do goniómetro e o sistema de evacuação, são totalmente controlados por PC. Este sistema produz, de forma estável, dados de alta qualidade. Sistema de imagiologia Um novo sistema de imagem, constituído por lentes intermédias de quatro fases e lentes de projeção de duas fases, permite obter imagens TEM filtradas por energia sem rotação e padrões de difração numa vasta gama de ampliações e comprimentos de câmara. Goniómetro controlado por Piezo Um novo estágio de goniómetro que incorpora um dispositivo piezoelétrico oferece um funcionamento suave para pesquisar campos de visão ao nível atómico. Integração com outros instrumentos O microscópio pode ser totalmente controlado com um PC. O conceito de design permite-nos integrar o sistema EDS e câmaras CCD. Aplicações Exploração de amostras biológicas em 3D para além da tomografia eletrónica clássica Mapeamento Elementar de Resolução Atómica por EELS e XEDS em STEM com Correção de Aberração

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Analytica China 2024
Analytica China 2024

18-20 nov 2024 Shanghai (China)

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