Microscópio eletrônico de transmissão (TEM) JEM-ARM300F2
eletrônico de transmissão e varredurade raios Xde laboratório

microscópio eletrônico de transmissão (TEM)
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Características

Tipo de microscopia
de raios X, eletrônico de transmissão (TEM)
Aplicações
de laboratório
Configuração
de piso
Resolução espacial

MÁX: 0,17 nm

MÍN: 0,05 nm

Descrição

O "GRANDE ARM™2" foi atualizado. Este novo "GRANDE ARM™2" permite a observação em altíssima resolução espacial com análises altamente sensíveis sobre uma ampla gama de tensões aceleradas. FHP2 nova objetiva objetiva de poliestireno desenvolvida A peça da lente objetiva FHP é otimizada para observação com resolução espacial ultra-alta. Embora mantendo esta capacidade, a forma da peça do poste foi ainda mais otimizada para o ângulo sólido de raio X e ângulo de descolagem dos SDDs duplos de grandes dimensões (158 mm2). Como resultado, a eficiência de detecção de raios X eficaz da FHP2 é mais de duas vezes mais sensível do que a da FHP. Ela pode fornecer resolução de sub-angstrom em mapas elementares de EDS. A coluna TEM é coberta por uma caixa tipo caixa, que pode reduzir o efeito de alterações ambientais como temperatura, fluxo de ar, ruído acústico, etc., e depois melhora a estabilidade do microscópio. ETA corrector & JEOL COSMO™ Correção rápida e precisa de aberrações JEOL COSMO™ utiliza apenas 2 Ronchigramas adquiridos de qualquer área amorfa para medir e corrigir aberrações. Portanto, o sistema pode fornecer uma correção rápida e precisa de aberrações sem a necessidade de espécimes dedicados. Melhoria da estabilidade A nova CFEG (Cold Field Emission electron Gun) adoptou um SIP mais pequeno com um volume de evacuação maior do que anteriormente para o GRANDE ARM™2. O aumento do volume de evacuação do SIP melhora o grau de vácuo perto do emissor dentro do CFEG, e também melhora a estabilidade das correntes de emissão e das sondas. A miniaturização do SIP pode reduzir a massa total do CFEG em ~100 kg.

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