Software de gestão miXcroscopy™
de visualizaçãode aquisiçãomédico-hospitalar

Software de gestão - miXcroscopy™ - Jeol - de visualização / de aquisição / médico-hospitalar
Software de gestão - miXcroscopy™ - Jeol - de visualização / de aquisição / médico-hospitalar
Software de gestão - miXcroscopy™ - Jeol - de visualização / de aquisição / médico-hospitalar - imagem - 2
Software de gestão - miXcroscopy™ - Jeol - de visualização / de aquisição / médico-hospitalar - imagem - 3
Software de gestão - miXcroscopy™ - Jeol - de visualização / de aquisição / médico-hospitalar - imagem - 4
Software de gestão - miXcroscopy™ - Jeol - de visualização / de aquisição / médico-hospitalar - imagem - 5
Guardar nos favoritos
Comparar
 

Características

Função
de gestão, de visualização, de aquisição
Aplicações
médico-hospitalar, para microscópio eletrônico de varredura

Descrição

O mesmo suporte de amostras pode agora ser utilizado tanto para o microscópio ótico como para o microscópio eletrónico de varrimento. Como resultado, ao gerir a informação da platina com software dedicado, é possível ao sistema registar as localizações observadas com o microscópio ótico e depois ampliar as mesmas áreas com o microscópio eletrónico de varrimento para observar as estruturas finas com maior ampliação e maior resolução. É agora possível comparar e verificar de forma simples e fácil as imagens do microscópio ótico e as imagens do microscópio eletrónico de varrimento. Caraterísticas Aquisição de dados e observação intuitiva com a utilização de cores Ao adicionar informações sobre a cor da luz visível da imagem do microscópio ótico (que não pode ser obtida com a imagem SEM), fornece uma imagem SEM com um efeito visual mais intuitivo. A procura suave de alvos tira partido das caraterísticas do microscópio ótico A realização de observações com o microscópio ótico permite encontrar facilmente as estruturas alvo, que são difíceis de distinguir utilizando imagens SEM. Evita danos na amostra causados pelo feixe de electrões Para evitar danos ou contaminação pelo feixe de electrões, a localização da área de interesse é feita primeiro com o microscópio ótico. Isto permite a observação SEM com uma dose mínima de radiação para o local de observação.

---

VÍDEO

Catálogos

Não estão disponíveis catálogos para este produto.

Ver todos os catálogos da Jeol

Outros produtos Jeol

Electron Probe Microanalyzer (EPMA)

* Os preços não incluem impostos, transporte, taxas alfandegárias, nem custos adicionais associados às opções de instalação e de ativação do serviço. Os preços são meramente indicativos e podem variar em função dos países, do custo das matérias-primas e das taxas de câmbio.