Sistema automático de preparação de amostras POLISHER™

para microscopia eletrônicade resfriamentode superfície

Os danos térmicos podem ser reduzidos através do arrefecimento da amostra com azoto líquido durante o processamento. Concebido para suprimir o consumo de azoto líquido, permitindo longos períodos de arrefecimento. Arrefecimento rápido do provete enquanto imerso em azoto líquido. Regresso à temperatura ambiente. Concebida para permitir a separação de peças. Incorpora um mecanismo que permite efetuar o processo desde o polimento até à observação sem expor a amostra ao ar. Para a fresagem Normal (sem arrefecimento), o agente de ligação é deformado por danos causados pelo calor, e aparecem grandes vazios. A -150 ℃, o resfriamento é excessivo e os vazios podem ser vistos no limite da ligação e no lado opaco da pastilha de Si. Não há vazios na amostra preparada com controle de temperatura de resfriamento. Função de revestimento anti-estático Está disponível uma função opcional de pulverização de feixe de iões. Criar revestimentos finos com boa granularidade. Ideal para casos que requerem reconhecimento de padrões, como EBSD. Suporte de fresagem iónica plana O feixe de iões é irradiado a um ângulo baixo em relação à amostra, permitindo a remoção da contaminação na camada superficial, bem como o alisamento da superfície. É também ideal para gravação selectiva. Kit de preparação de secções transversais Este é um kit para realizar a fresagem por feixe de iões enquanto se roda a amostra. Este kit é utilizado com o suporte de fresagem de iões Planar Torna possível criar secções transversais de amostras propensas a estrias quando fresadas, tais como materiais porosos, pós e fibras.