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Sistemas de preparação de amostras para microscopia eletrônica
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sistema automático de preparação de amostrasZONETEM II
... Remoção suave e eficaz de hidrocarbonetos para imagens SEM e TEM mais nítidas Limpeza à base de UV, sem necessidade de produtos químicos nem de gás Remoção rápida e sem danos da contaminação ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
... O limpador de amostras de mesa ZONESEMII utiliza tecnologia de limpeza baseada em raios UV para minimizar ou eliminar a contaminação por hidrocarbonetos na obtenção de imagens por microscopia eletrónica. Visão ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
... Otimizado para SEM e AFM: compatível com microscópios da Hitachi e de outros fabricantes Visão geral Os sistemas de fresagem iônica Hitachi IM4000II e IM5000 proporcionam uma preparação ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
... O sistema de feixe de iões de ampla banda mais avançado para a produção de amostras de secção transversal ou de fresagem plana de qualidade excecionalmente elevada para microscopia eletrónica. Características Taxa ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
sistema de preparação de amostras automáticoQG-3100
... QG-3100, capaz de contrastar até 40 grelhas de uma só vez. É simples de usar, programável e de baixo custo. O corante automático QG-3100 aumenta tanto a qualidade da coloração quanto o rendimento, minimizando a contaminação, ao mesmo ...
Boeckeler Instruments, Inc.
Boeckeler Instruments, Inc.
sistema automático de preparação de amostrasEM TIC 3X
... realizado por uma fase. As soluções de fluxo de trabalho fornecem transferência segura e eficiente de amostras para instrumentos de preparação ou sistemas de análise subsequentes. ...
... conveniente A gaveta exclusiva garante a remoção segura e conveniente da navalha de vidro sem qualquer ferramenta adicional. Fácil operação A redefinição automática do mecanismo de quebra e entalhe minimiza as ...
sistema de preparação de amostras para microscopia eletrônicaZONESEMII
... Limpador de Amostras de Mesa ZONESEMII utiliza tecnologia de limpeza baseada em UV para minimizar ou eliminar a contaminação por hidrocarbonetos para imagens de microscopia eletrónica. Visão geral A ...
sistema automático de preparação de amostrasPOLISHER™
... secção transversal de uma amostra para microscopia eletrónica. Uma vez que uma secção transversal é preparada com um feixe de iões, é possível obter uma secção transversal de boa qualidade num período ...
Jeol
... Elevado rendimento A fonte de iões de alta velocidade e a função de arranque automático permitem obter resultados de fresagem rapidamente. Programa de processamento automático O processamento e o acabamento a alta ...
Jeol
... permitir a separação de peças. Incorpora um mecanismo que permite efetuar o processo desde o polimento até à observação sem expor a amostra ao ar. Para a fresagem Normal (sem arrefecimento), o agente de ligação é deformado ...
Jeol
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