Profilômetro óptico TopMap Micro.View®
multiuso3Dpor contraste topográfico

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Características

Tipo
óptico
Aplicações
multiuso
Técnica de observação
3D, por contraste topográfico
Configuração
de bancada
Outras características
de alta resolução

Descrição

TopMap Micro.View é um profiler óptico fácil de usar e compacto. Combina um desempenho excepcional e acessibilidade económica com esta poderosa solução metrológica. Com uma gama de medição Z alargada de 100 mm e a tecnologia CST Continuous Scanning, Micro.View mede topografias complexas com resolução nm. Esta conveniente configuração de mesa apresenta uma electrónica integrada, com o localizador de foco inteligente simplificando e acelerando o procedimento de medição. Destaques Medir o acabamento superficial numa configuração compacta Medição sem contacto de topografia 3D, rugosidade e textura gama de medição z de 100 mm com tecnologia CST Continuous Scanning Excelente resolução lateral Escolher de objectivos específicos da aplicação Pequenas pegadas com capacidade expandida Beneficie da Tecnologia de Compensação Ambiental ECT opcional, assegurando resultados de medição fiáveis e precisos mesmo em ambientes de produção ruidosos e desafiantes. Micro.View é o instrumento de controlo de qualidade rentável para inspeccionar superfícies de engenharia de precisão, tanto no fabrico como na investigação.

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VÍDEO

Catálogos

* Os preços não incluem impostos, transporte, taxas alfandegárias, nem custos adicionais associados às opções de instalação e de ativação do serviço. Os preços são meramente indicativos e podem variar em função dos países, do custo das matérias-primas e das taxas de câmbio.