TopMap Micro.View é um profiler óptico fácil de usar e compacto. Combina um desempenho excepcional e acessibilidade económica com esta poderosa solução metrológica. Com uma gama de medição Z alargada de 100 mm e a tecnologia CST Continuous Scanning, Micro.View mede topografias complexas com resolução nm. Esta conveniente configuração de mesa apresenta uma electrónica integrada, com o localizador de foco inteligente simplificando e acelerando o procedimento de medição.
Destaques
Medir o acabamento superficial numa configuração compacta
Medição sem contacto de topografia 3D, rugosidade e textura
gama de medição z de 100 mm com tecnologia CST Continuous Scanning
Excelente resolução lateral
Escolher de objectivos específicos da aplicação
Pequenas pegadas com capacidade expandida
Beneficie da Tecnologia de Compensação Ambiental ECT opcional, assegurando resultados de medição fiáveis e precisos mesmo em ambientes de produção ruidosos e desafiantes. Micro.View é o instrumento de controlo de qualidade rentável para inspeccionar superfícies de engenharia de precisão, tanto no fabrico como na investigação.
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