Microscópio SEM VEGA

para inspeçãode laboratóriopara a pesquisa sobre materiais

Provando que o nível de entrada não tem de significar comprometer os resultados, o TESCAN VEGA Compact oferece uma solução SEM analítica completa para laboratórios que dão prioridade a uma operação fácil e a um tempo rápido para imagens de alta qualidade e análises de composição (EDS). O TESCAN VEGA Compact apresenta uma configuração simplificada que inclui apenas os componentes mais críticos para a captura eficiente de dados morfológicos e elementares, permitindo que o TESCAN VEGA Compact ocupe um espaço mais pequeno no laboratório. Com a capacidade de acomodar amostras de grandes dimensões que são comuns na indústria, na ciência dos materiais e nos semicondutores - como secções transversais metalúrgicas, estruturas soldadas ou placas de circuitos impressos - o TESCAN VEGA Compact é uma excelente escolha não só para as suas necessidades actuais de inspecção de materiais, controlo de qualidade e análise de falhas, mas também para as suas necessidades analíticas futuras. O TESCAN VEGA Compact funciona a partir da interface gráfica de utilizador completa da TESCAN, o TESCAN Essence™, que está no centro de todos os instrumentos SEM e FIB-SEM da TESCAN. Um operador que aprende no TESCAN VEGA Compact pode facilmente fazer a transição para outros microscópios TESCAN ou adaptar algumas características do ambiente de software Essence para corresponder à GUI de outros instrumentos no laboratório. Principais vantagens Processe amostras mais rapidamente com a câmara grande do VEGA Compact, que oferece espaço para analisar várias amostras ou amostras grandes, bem como um verdadeiro vácuo elevado para resultados EDS fiáveis Adquira facilmente dados de composição e correlacione-os directamente com a imagem SEM utilizando a funcionalidade de sobreposição do Essence™ EDS opcional e totalmente integrado da TESCAN