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Microscópio SEM MAGNASTEMpara a pesquisa sobre materiaisde mesa
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Características
- Tipo
- SEM, STEM
- Aplicações
- para a pesquisa sobre materiais
- Configuração
- de mesa
- Outras características
- de alta resolução
Descrição
Imagens de alta resolução e alto contraste de materiais de última geração (por exemplo, estruturas catalisadoras, nanotubos, nanopartículas e outras estruturas em nanoescala)
Excelente plataforma adequada para metrologia MEV/STEM em escala sub-nanométrica
Configuração rápida do feixe de elétrons – condições ideais de imagem são garantidas pelo In-Flight Beam Tracing™
Sistema multi-detector TriBE™ e TriSE™ para nanocaracterização de amostras
Plataforma modular de software intuitiva projetada para operação sem esforço, independentemente do nível de habilidade dos usuários
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* Os preços não incluem impostos, transporte, taxas alfandegárias, nem custos adicionais associados às opções de instalação e de ativação do serviço. Os preços são meramente indicativos e podem variar em função dos países, do custo das matérias-primas e das taxas de câmbio.