InGaAsカメラ C15333-10E

検査用検診用デジタル

SWIR（短波長赤外）画像は非破壊検査に最適なソリューションです。表面下を観察し、SWIRスペクトルの特徴から材料を区別し、製品の品質を保証する安全で便利な方法を提供します。 SWIRイメージングを生産ラインに組み込むには、C15333-10E InGaAsラインスキャンカメラのようなカメラが必要です。その高いSWIR感度と高速ラインレートは、リアルタイムのインライン非破壊検査に理想的です。 特長 950 nm～1700 nmのSWIR感度 1024ピクセルリニアアレイ 最大ラインレート40 kHz インターフェースギガビットイーサネット採用 高画質画像搭載（バックグラウンドサブトラクション、リアルタイムシェーディング補正） 用途 食品・農産物（傷み検査、品質選別、原料判別など） 半導体（Siウエハパターン検査、EL/PLによる太陽電池検査など） 工業（含水率検査、リーク検査、容器検査など） 仕様 撮像素子 - InGaAsラインセンサー 有効画素数 - 1024（H）×1（V） セルサイズ - 12.5 μm (H) × 12.5 μm (V) 有効面積 - 12.8 mm (H) × 0.0125 mm (V) 読み出し速度 - 内部モード40 kHz (露光時間 21 μs) 同期読み出し40 kHz 露光時間：21μs～1s（1μsステップ） 外部トリガー入力 - 同期読み出し 外部トリガ信号ルーティング - 12ピンSMAまたはHIROSEコネクタ 画像処理機能 - 背景減算、リアルタイムシェーディング補正 インターフェース - ギガビットイーサネット A/Dコンバーター - 14ビット レンズマウント - Cマウント 電源 - DC 12 V 消費電力 - 最大6W 動作周囲温度 - 0 ℃～+40 保存周囲温度 - 10 ℃～+50